Arama terimi "Yüzey analizi" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "STYLUS Profilometre" (Marka/Model: NanoMap/ LS). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 7 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Yüzey Karakterize, Görüntüleme, Tanecik Karakterize, 325 No'lu Laboratuvar, Genel Uygulama Laboratuvarı, Mekanik Testler, Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325). Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır.
Yapılan Analizler:
PRM 01 Film kalınlığı 2D Ölçüm PRM 02 Haraitalama ve Yüzey Pürüzlülüğü (3D Ölçüm)
Teknik Özellikler:
2,5 µm hassasiyetindeki prob ile yüzey üzerinde tarama yapılarak 2D ve 3D topografik verilerin hızlı bir şekilde alındığı sistemlerdir. 500 µm - 150 mm tarama aralığına sahiptir. Kalın ve ince film yüzeyleri ( pürüzlülük, dalgalanmalar, yüzey hataları) hakkında bilgi vermenin yanı sıra adım yüksekliği ve adım aralığını yüksek çözünürlükte ölçebilmektedir.
Kullanım Amacı:
JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi.
Yapılan Analizler:
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik Özellikler:
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)
Kullanım Amacı:
Numunelerin yüzey alanlarının tespiti
Yapılan Analizler:
BET 01 Tek Noktalı BET Analizi BET 02 Çok Noktalı BET Analizi BET 03 Çok Noktalı BET Analizi+Gözenek Boyutu BET 04 Çok Noktalı BET Analizi+Mikro Gözenek Boyutu BET 05 Karbondioksit Absorbsiyon Ölçümü BET 06 Metan Absorbsiyon Ölçümü
Teknik Özellikler:
Maksimum Numune Sayısı : 3
Kullanım Amacı:
ZEISS EVO LS10, malzeme bilimi, yer bilimleri ve yaşam bilimleri araştırmalarında kullanılmak üzere tasarlanmış, yüksek esnekliğe sahip bir Taramalı Elektron Mikroskobudur (SEM). Cihaz, iletken olmayan veya hazırlık aşamasında kaplama yapılamayan hassas numunelerin doğal hallerine en yakın şekilde incelenmesine olanak tanır. Bu cihazla mikro ve nanometre ölçeğindeki malzemelerin morfolojik görüntülemesi, EDX (Enerji Dağılımlı X-Işını) dedektörü aracılığıyla, numune yüzeyindeki noktasal, çizgisel veya alan bazlı elementel analizler ve kimyasal haritalama çalışmaları yapılabilmektedir.
Yapılan Analizler:
SEM 01- SE_VPSE_BSD_STEM dedektör SEM 02- EDX - Harita_nokta_ çizgi_alan
Teknik Özellikler:
0,1 – 30 kV hızlandırma voltajı 310 mm (Ø) x 220 mm (Ø) ölçülerine sahip chamber 100 mm maksimum numune yüksekliği 230 mm maksimum numune genişliği 80 x 100 x 35 mm (XYZ) motorize stage dolaşımı Thermionic emisyon W veya LaB6 elektron kaynağı (gun) kullanımı 3 nm 30 kV / 20 nm 1kV çözünürlük
Kullanım Amacı:
Yüzey gerilimi, ara yüzey gerilimi ve serbest yüzey enerjisi ölçümleri; ıslanabilirlik, sıvı emilimi, sıvıyı yüzeyde tutma, sıvı yayılması, yüzey temizliği, hakkında bilgi verir.
Yapılan Analizler:
TAÖ 01 Temas Açısı Ölçümü TAÖ 02 Yüzey serbest enerjisi
Teknik Özellikler:
Temas Açısı ölçüm cihazı ile damla görüntülerini kaydederek zamana bağlı damla şeklini otomatik olarak analiz eder.
Kullanım Amacı:
Sivriltilmiş bir iğne ucu kullanılarak, yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan bir tekniktir. Yüzeyleri atomik veya moleküler düzeyde inceleyerek nanometre ölçeğindeki detayları göstermek, materyallerin mekanik özelliklerini karakterize etmek ve biyolojik örnekler üzerinde çalışmak için kullanılmaktadır.
Yapılan Analizler:
AFM 01 Atomik Kuvvet Mikroskop AFM 02 Kelvin Prop Mikroskop (KFM) AFM 03 Manyetik Kuvvet Mikroskop (MFM) AFM 04 Elektrostatik Kuvvet Mikroskop (EFM) AFM 05 Sıvı Hücrede Ölçüm AFM 06 Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) AFM 07 Taramalı Tünelleme Mikroskop (STM)
Teknik Özellikler:
*Temaslı (contact) ve vurmalı (semi-contact) olmak üzere iki ana teknik kullanılmaktadır. *Tarama Alanı / Dikey İnceleme Alanı 100µm x 100µm / 5.0µm 10µm x 10µm / 2.5µm 1µm x 1µm / 1.0 µm *Çalışma Modları; Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Probe Mikroskobu (KPFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Force Modulation Mikroskobu (FMM), Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) (440 nm), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), biyolojik örnekler için sıvı içinde tarama, Sıcaklık (-25°C - 250°C) uygulayarak görüntüleme ve analiz imkanları sunmaktadır.
Kullanım Amacı:
Gaz numune analizi yapılır.
Yapılan Analizler:
Hidrojen miktar analizi
Teknik Özellikler:
Kolon Fırın Sıcaklığı: (Oda sıcaklığı + 4°C) ila 450°C Taşıyıcı Gaz Kontrolü: Elektronik akış kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Akış Kontrol Cihazı Dedektör Gaz Kontrolü: Elektronik basınç kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Basınç Kontrolörü Numune Enjektörü: Bölmeli/Bölmesiz, Direkt, Kolon Üstü/Programlanabilir Sıcaklık Buharlaştırıcı Enjeksiyon Dedektörleri : FID, BID, TCD, ECD, FPD, FTD (NPD), MS. İsteğe bağlı, 12 flakon veya 150 flakon kapasiteli sıvı otomatik örnekleyici Opsiyonel otomatik Baş Boşluğu, SPME, Tahliye ve Tuzak, Termal Desorber ve Piroliz Ünitesi
Kullanım Amacı:
elek analizi
Yapılan Analizler:
elek analizi
Teknik Özellikler:
100 mikron ve üzeri ürünleri elemeye uygun 1 alt tas olmak üzere 7 adet elek kapasitesi bulunmakta,38 x 41 x 68 cm boyutlarında ve22.5 kg ağırlığındadır.
Kullanım Amacı:
Yüzey görüntüsü
Yapılan Analizler:
Yüzey görüntüsü alma
Teknik Özellikler:
KAFA:DürbünGöz mercekleri:10x/22Yakınlaştırma Aralığı:0,67x-4x Durmak:Düz Odaklanma
Kullanım Amacı:
Nanomalzemelerin partikül boyut analizi
Yapılan Analizler:
Çeşitli nanomalzemelerin partikül boyut analizinin belirlenmesi
Teknik Özellikler:
1 nm'den 6 μm'ye kadar partikül boyutlandırma, 35 mW yüksek hassasiyetli lazer dedektör