Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) - Cihaz Detayı

Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)

İLTEK Görüntüleme ZEISS/EVO LS10

Aktif Cihaz Dış Kullanıma Açık Araştırmaya Açık Analize Açık

Temel Alanlar

Fen Bilimleri ve Matematik

Mühendislik Temel Alanı

Sağlık Bilimleri Temel Alanı

Anahtar Kelimeler

Elementel analiz

Mikroyapı analizi

SEM

EDX

EDS

Taramalı Elektron MikroskobuEnerji Dağılım Spektroskopisi (EDS/EDX)

Biyomalzeme yüzey analizi

Kristal yapısı analizi

Geri saçılmış elektron (BSE) analizi

Sekonder elektron (SE) görüntüleme

Yüzey morfolojisi analizi

Kompozisyon analizi

Kaplama kalınlık ölçümü

Partikül analizi

Porozite analizi

Boyutsal analiz

Eğimli kesit analizi

Metalurjik analiz

Nano ölçekli analiz

Mikrobiyal ve hücresel yüzey morfolojisi analizi

Kullanım Amacı

ZEISS EVO LS10, malzeme bilimi, yer bilimleri ve yaşam bilimleri araştırmalarında kullanılmak üzere tasarlanmış, yüksek esnekliğe sahip bir Taramalı Elektron Mikroskobudur (SEM). Cihaz, iletken olmayan veya hazırlık aşamasında kaplama yapılamayan hassas numunelerin doğal hallerine en yakın şekilde incelenmesine olanak tanır. Bu cihazla mikro ve nanometre ölçeğindeki malzemelerin morfolojik görüntülemesi, EDX (Enerji Dağılımlı X-Işını) dedektörü aracılığıyla, numune yüzeyindeki noktasal, çizgisel veya alan bazlı elementel analizler ve kimyasal haritalama çalışmaları yapılabilmektedir.

Yapılan Analizler

SEM 01- SE_VPSE_BSD_STEM dedektör SEM 02- EDX - Harita_nokta_ çizgi_alan

Teknik Özellikler

0,1 – 30 kV hızlandırma voltajı 310 mm (Ø) x 220 mm (Ø) ölçülerine sahip chamber 100 mm maksimum numune yüksekliği 230 mm maksimum numune genişliği 80 x 100 x 35 mm (XYZ) motorize stage dolaşımı Thermionic emisyon W veya LaB6 elektron kaynağı (gun) kullanımı 3 nm 30 kV / 20 nm 1kV çözünürlük

Laboratuvarlar

52

Birim (Laboratuvar)

123

Alt Birim

150

Laboratuvar

3901

Cihaz