Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM) - Cihaz Detayı

Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM)

İLTEK Görüntüleme JEOL/JEM-2100

Aktif Cihaz Dış Kullanıma Açık Araştırmaya Açık Analize Açık

Temel Alanlar

Fen Bilimleri ve Matematik

Mühendislik Temel Alanı

Sağlık Bilimleri Temel Alanı

Ziraat, Orman ve Su Ürünleri Temel Alanı

Anahtar Kelimeler

TEM

Nanogörüntüleme

Kristal Yapı Analizi

Mikroyapı Analizi

Faz Analizi

Atomik Düzeyde Görüntüleme

Lattice Fringe Analizi

Kristal Yönelimi ve Yapısal Analiz

Dislokasyon ve Kusur Analizi

Nano Parçacık Morfolojisi ve Boyut Dağılımı

Amorf ve Kristal Yapı Ayrımı

Seçili Bölge Elektron Difraksiyonu (SAED)

Elementel Analiz (EDS/EDX ile)

Kullanım Amacı

JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi.

Yapılan Analizler

TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi

Teknik Özellikler

200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)

Laboratuvarlar

52

Birim (Laboratuvar)

123

Alt Birim

150

Laboratuvar

3901

Cihaz