logo
Pazartesi - Cuma 08:00 - 17:00 Pazartesi - Cuma 08:00 - 17:00

SULabs, Selçuk Üniversitesi Rektörlüğü ürünü olan bir laboratuvar yönetim sistemidir.

İletişim Selçuk Üniversitesi +90(332)223 0702 sulabs@selcuk.edu.tr selcukiltek@selcuk.edu.tr
Bizden Haber Al
STYLUS Profilometre - Cihaz Detayı

STYLUS Profilometre

İLTEK Yüzey Karakterize NanoMap/ LS
STYLUS Profilometre
Aktif Cihaz Dış Kullanıma Açık Araştırmaya Kapalı Analize Kapalı

Temel Alanlar

Fen Bilimleri ve Matematik
Mühendislik Temel Alanı
Sağlık Bilimleri Temel Alanı

Anahtar Kelimeler

Yüzey Profilometrisi
Yüzey pürüzlülüğü
Yüzey topografyası
Yüzey şekil bozukluğu
Yüzey morfolojisi
2D yüzey ölçümü
3D yüzey ölçümü
Yüzey yüksekliği
Nanopürüzlülük
Yüzey şekil analizi
Mikrometre çözünürlüğü
Roughness (Pürüzlülük) parametreleri
Rz
Ra
Rq ölçümleri
Polimerler
Metaller
Seramikler
Cam yüzeyleri
Yüzey kaplamaları
Yüzey boyama
Kompozit malzemeler
Yüzey kaplama filmleri
Nanomalzemeler
Mikroelektronik devreler
Mikro ve nano yapılar
İnce film kaplamalar

Kullanım Amacı

İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır.

Yapılan Analizler

PRM 01 Film kalınlığı 2D Ölçüm
PRM 02 Haraitalama ve Yüzey Pürüzlülüğü (3D Ölçüm)

Teknik Özellikler

2,5 µm hassasiyetindeki prob ile yüzey üzerinde tarama yapılarak 2D ve 3D topografik verilerin hızlı bir şekilde alındığı sistemlerdir. 500 µm - 150 mm tarama aralığına sahiptir. Kalın ve ince film yüzeyleri  ( pürüzlülük, dalgalanmalar, yüzey hataları) hakkında bilgi vermenin yanı sıra adım yüksekliği ve adım aralığını yüksek çözünürlükte ölçebilmektedir.

52

Birim (Laboratuvar)

123

Alt Birim

150

Laboratuvar

3901

Cihaz