Arama terimi "X-ışını difraksiyonu (XRD)" için toplam 2 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "X-Işını Difraktometresi (XRD)" (Marka/Model: BRUKER / D8 ADVANCE). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: yapilan analizler alanında yüksek benzerlik, anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "Bruker D8 ADVANCE, malzeme biliminden yer bilimlerine kadar geniş bir yelpazede kullanılan, X-ışını kırınımı prensibine dayalı çok amaçlı ve yüksek performanslı bir X-Işını Difraktometresi (XRD) sistemidir. Bu cihaz, kristal yapıların aydınlatılması ve faz analizlerinin yüksek hassasiyetle gerçekleştirilmesini sağlar." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 2 farklı kategoriden cihazları içeriyor: X-Işınları Analizi, Görüntüleme. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
Bruker D8 ADVANCE, malzeme biliminden yer bilimlerine kadar geniş bir yelpazede kullanılan, X-ışını kırınımı prensibine dayalı çok amaçlı ve yüksek performanslı bir X-Işını Difraktometresi (XRD) sistemidir. Bu cihaz, kristal yapıların aydınlatılması ve faz analizlerinin yüksek hassasiyetle gerçekleştirilmesini sağlar.
Yapılan Analizler:
XRD 01 Kırınım Deseni Çekimi XRD 02 Nitel Analiz XRD 03 Kırınım Deseni Analizi XRD 04 Reflektivite Analizi XRD 05 Kantitatif Analiz XRD 06 Yarı Kantitatif Analiz (%)
Teknik Özellikler:
Jeneratör ve dedektör: Bruker D8 advance (Lynxeye dedector) Tüp: Cu (40 Kv – 40 mA) Dalga boyu : Cukα1=1.54059 Å
Kullanım Amacı:
JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi.
Yapılan Analizler:
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik Özellikler:
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)