Arama terimi "Alternatif Akım (AC) Analizi" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM)" (Marka/Model: JEOL/JEM-2100). Bu cihaz temel olarak "JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 7 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Görüntüleme, 325 No'lu Laboratuvar, Analitik Kimya Araştırma Laboratuvarı (K-331), Biyoteknoloji, Genel Uygulama Laboratuvarı, Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325), Temiz Oda. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi.
Yapılan Analizler:
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik Özellikler:
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)
Kullanım Amacı:
Gaz numune analizi yapılır.
Yapılan Analizler:
Hidrojen miktar analizi
Teknik Özellikler:
Kolon Fırın Sıcaklığı: (Oda sıcaklığı + 4°C) ila 450°C Taşıyıcı Gaz Kontrolü: Elektronik akış kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Akış Kontrol Cihazı Dedektör Gaz Kontrolü: Elektronik basınç kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Basınç Kontrolörü Numune Enjektörü: Bölmeli/Bölmesiz, Direkt, Kolon Üstü/Programlanabilir Sıcaklık Buharlaştırıcı Enjeksiyon Dedektörleri : FID, BID, TCD, ECD, FPD, FTD (NPD), MS. İsteğe bağlı, 12 flakon veya 150 flakon kapasiteli sıvı otomatik örnekleyici Opsiyonel otomatik Baş Boşluğu, SPME, Tahliye ve Tuzak, Termal Desorber ve Piroliz Ünitesi
Kullanım Amacı:
Elektrik akımını ölçmek amacıyla kullanılmaktadır.
Yapılan Analizler:
Elektrik devrelerindeki akım şiddetini ölçerek analiz yapmaktadır.
Teknik Özellikler:
Dijital ekran, geniş akım ölçüm aralığı, taşınabilir yapı
Kullanım Amacı:
Hücre veya partiküllerin karakteristiklerinin ölçümü ile tanı ve sınıflandırma
Yapılan Analizler:
BYT30 Akım Sitometri-Apoptoz analizi, fenotipik karakterizayon analizi (Flow sitometri tüpleri ve FACS flow tamponu fiyata dahildir.) BYT31 Akım Sitometri ile hücre saflaştırma (Flow sitometri tüpleri ve FACS flow tamponu fiyata dahildir.)(Sarfların Merkezimiz tarafından karşılanması durumunda)
Teknik Özellikler:
3 lazer(488,633 ve UV), 11 Kanal, Two-way sorting: 12 x 75 mm, and 15 mL, Four-way sorting: 1.5 mL microtube and 12 x 75 mm
Kullanım Amacı:
elek analizi
Yapılan Analizler:
elek analizi
Teknik Özellikler:
100 mikron ve üzeri ürünleri elemeye uygun 1 alt tas olmak üzere 7 adet elek kapasitesi bulunmakta,38 x 41 x 68 cm boyutlarında ve22.5 kg ağırlığındadır.
Kullanım Amacı:
Elektriksel büyüklükleri (voltaj, akım, direnç) ölçerek devre analizi yapmaktadır.
Yapılan Analizler:
Elektriksel büyüklükleri (voltaj, akım, direnç) ölçerek devre analizi yapmaktadır.
Teknik Özellikler:
Dijital ekran, otomatik aralık belirleme, geniş ölçüm kapasitesi
Kullanım Amacı:
ZEISS EVO LS10, malzeme bilimi, yer bilimleri ve yaşam bilimleri araştırmalarında kullanılmak üzere tasarlanmış, yüksek esnekliğe sahip bir Taramalı Elektron Mikroskobudur (SEM). Cihaz, iletken olmayan veya hazırlık aşamasında kaplama yapılamayan hassas numunelerin doğal hallerine en yakın şekilde incelenmesine olanak tanır. Bu cihazla mikro ve nanometre ölçeğindeki malzemelerin morfolojik görüntülemesi, EDX (Enerji Dağılımlı X-Işını) dedektörü aracılığıyla, numune yüzeyindeki noktasal, çizgisel veya alan bazlı elementel analizler ve kimyasal haritalama çalışmaları yapılabilmektedir.
Yapılan Analizler:
SEM 01- SE_VPSE_BSD_STEM dedektör SEM 02- EDX - Harita_nokta_ çizgi_alan
Teknik Özellikler:
0,1 – 30 kV hızlandırma voltajı 310 mm (Ø) x 220 mm (Ø) ölçülerine sahip chamber 100 mm maksimum numune yüksekliği 230 mm maksimum numune genişliği 80 x 100 x 35 mm (XYZ) motorize stage dolaşımı Thermionic emisyon W veya LaB6 elektron kaynağı (gun) kullanımı 3 nm 30 kV / 20 nm 1kV çözünürlük
Kullanım Amacı:
Nanomalzemelerin partikül boyut analizi
Yapılan Analizler:
Çeşitli nanomalzemelerin partikül boyut analizinin belirlenmesi
Teknik Özellikler:
1 nm'den 6 μm'ye kadar partikül boyutlandırma, 35 mW yüksek hassasiyetli lazer dedektör
Kullanım Amacı:
Gaz numunelerin miktar tayini yapılır.
Yapılan Analizler:
Gaz numune analizi, Hidrojen miktar analizi
Teknik Özellikler:
2D kod navigasyonuTek dokunuşla girişClean pilot işleviAkıllı telefon üzerinden GC kontrolüBID dedektörüGaz seçici ile taşıyıcı gazların seçimi
Kullanım Amacı:
Yarıiletken temelli cihazların empedans analizlerinin yapılması
Yapılan Analizler:
TO 11 Empedans - Kapasitans Ölçüm Sistemi
Teknik Özellikler:
Hioki IM3570 LCR Ölçer ve Empedans Analizörü, elektronik bileşenlerin test edilmesinde 1mHz'den 3GHz'e kadar değişen bir frekansta ölçüm yeteneğine sahiptir. Hem LCR ölçer hem de empedans analizörü olarak kullanılan Hioki IM3570, frekans tarama ölçümü ve tepe karşılaştırıcı işlevlerini kullanarak rezonans koşulunda geçme/kalma kararları üretebilir ve ayrıca 1 kHz ve 120 Hz LCR testi yoluyla geçme/kalma kararları dahil olmak üzere farklı koşullar altında sürekli denetimler gerçekleştirebilir. Bu şekilde, tek bir cihazla hem frekans tarama ölçümü hem de LCR ölçümü yapmak mümkündür.