X-Işını Difraktometresi (XRD) - Cihaz Detayı

X-Işını Difraktometresi (XRD)

İLTEK X-Işınları Analizi BRUKER / D8 ADVANCE

Aktif Cihaz Dış Kullanıma Açık Araştırmaya Açık Analize Açık

Temel Alanlar

Fen Bilimleri ve Matematik

Mühendislik Temel Alanı

Anahtar Kelimeler

X-ışını difraksiyonu (XRD)

Kristal yapısı

X-ışını spektroskopisi

Kristal kafesi

Toz XRD (Powder XRD)

Tek kristal XRD

Faz analizi

Toz Kırınım Deseni

Kantitatif analiz

Kalitatif analiz

Tekstür Analizi

Minerolojik Analiz

XRD patern analizi

Faz tayini

Tek kristal analizi

Gerinim ve stres analizi

Kullanım Amacı

Bruker D8 ADVANCE, malzeme biliminden yer bilimlerine kadar geniş bir yelpazede kullanılan, X-ışını kırınımı prensibine dayalı çok amaçlı ve yüksek performanslı bir X-Işını Difraktometresi (XRD) sistemidir. Bu cihaz, kristal yapıların aydınlatılması ve faz analizlerinin yüksek hassasiyetle gerçekleştirilmesini sağlar.

Yapılan Analizler

XRD 01 Kırınım Deseni Çekimi XRD 02 Nitel Analiz XRD 03 Kırınım Deseni Analizi XRD 04 Reflektivite Analizi XRD 05 Kantitatif Analiz XRD 06 Yarı Kantitatif Analiz (%)

Teknik Özellikler

Jeneratör ve dedektör: Bruker D8 advance (Lynxeye dedector) Tüp: Cu (40 Kv – 40 mA) Dalga boyu : Cukα1=1.54059 Å

Laboratuvarlar

52

Birim (Laboratuvar)

123

Alt Birim

150

Laboratuvar

3901

Cihaz