Yerel vektör benzerliği ile analiz yapılır.
Arama terimi "Roughness (Pürüzlülük) parametreleri" için toplam 4 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "Pürüzlülük azaltıcı" (Marka/Model: BrightWAY). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: cihaz adi alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "Yüzey Pürüzlülük azaltma işlemi" amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 3 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Mekanik Testler, Yüzey Karakterize, BİYOFİZİK LAB.. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
BrightWAY · Mekanik Testler
Kullanım amacı
Yüzey Pürüzlülük azaltma işlemi
Yapılan analizler
Teknik özellikler
NanoMap/ LS · Yüzey Karakterize
Kullanım amacı
İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır.
Yapılan analizler
PRM 01 Film kalınlığı 2D Ölçüm PRM 02 Haraitalama ve Yüzey Pürüzlülüğü (3D Ölçüm)
Teknik özellikler
2,5 µm hassasiyetindeki prob ile yüzey üzerinde tarama yapılarak 2D ve 3D topografik verilerin hızlı bir şekilde alındığı sistemlerdir. 500 µm - 150 mm tarama aralığına sahiptir. Kalın ve ince film yüzeyleri ( pürüzlülük, dalgalanmalar, yüzey hataları) hakkında bilgi vermenin yanı sıra adım yüksekliği ve adım aralığını yüksek çözünürlükte ölçebilmektedir.
- · BİYOFİZİK LAB.
Kullanım amacı
Elektronik devrelerde elektriksel parametreleri ölçmek ve test etmek
Yapılan analizler
Elektriksel ölçüm, voltaj, akım, direnç testler
Teknik özellikler
Voltaj, akım, direnç ölçümü, Dijital ekran
NT-MDT / Ntegra Solaris · Yüzey Karakterize
Kullanım amacı
Sivriltilmiş bir iğne ucu kullanılarak, yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan bir tekniktir. Yüzeyleri atomik veya moleküler düzeyde inceleyerek nanometre ölçeğindeki detayları göstermek, materyallerin mekanik özelliklerini karakterize etmek ve biyolojik örnekler üzerinde çalışmak için kullanılmaktadır.
Yapılan analizler
AFM 01 Atomik Kuvvet Mikroskop AFM 02 Kelvin Prop Mikroskop (KFM) AFM 03 Manyetik Kuvvet Mikroskop (MFM) AFM 04 Elektrostatik Kuvvet Mikroskop (EFM) AFM 05 Sıvı Hücrede Ölçüm AFM 06 Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) AFM 07 Taramalı Tünelleme Mikroskop (STM)
Teknik özellikler
*Temaslı (contact) ve vurmalı (semi-contact) olmak üzere iki ana teknik kullanılmaktadır. *Tarama Alanı / Dikey İnceleme Alanı 100µm x 100µm / 5.0µm 10µm x 10µm / 2.5µm 1µm x 1µm / 1.0 µm *Çalışma Modları; Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Probe Mikroskobu (KPFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Force Modulation Mikroskobu (FMM), Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) (440 nm), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), biyolojik örnekler için sıvı içinde tarama, Sıcaklık (-25°C - 250°C) uygulayarak görüntüleme ve analiz imkanları sunmaktadır.