Arama terimi "Tek kristal XRD" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "X-Işını Difraktometresi (XRD)" (Marka/Model: BRUKER / D8 ADVANCE). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: yapilan analizler alanında yüksek benzerlik, anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "Bruker D8 ADVANCE, malzeme biliminden yer bilimlerine kadar geniş bir yelpazede kullanılan, X-ışını kırınımı prensibine dayalı çok amaçlı ve yüksek performanslı bir X-Işını Difraktometresi (XRD) sistemidir. Bu cihaz, kristal yapıların aydınlatılması ve faz analizlerinin yüksek hassasiyetle gerçekleştirilmesini sağlar." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 6 farklı kategoriden cihazları içeriyor: X-Işınları Analizi, BİYOFİZİK LAB., ANATOMİ LAB., Görüntüleme, Spektroskopi, Üretim Atölyesi. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
Bruker D8 ADVANCE, malzeme biliminden yer bilimlerine kadar geniş bir yelpazede kullanılan, X-ışını kırınımı prensibine dayalı çok amaçlı ve yüksek performanslı bir X-Işını Difraktometresi (XRD) sistemidir. Bu cihaz, kristal yapıların aydınlatılması ve faz analizlerinin yüksek hassasiyetle gerçekleştirilmesini sağlar.
Yapılan Analizler:
XRD 01 Kırınım Deseni Çekimi XRD 02 Nitel Analiz XRD 03 Kırınım Deseni Analizi XRD 04 Reflektivite Analizi XRD 05 Kantitatif Analiz XRD 06 Yarı Kantitatif Analiz (%)
Teknik Özellikler:
Jeneratör ve dedektör: Bruker D8 advance (Lynxeye dedector) Tüp: Cu (40 Kv – 40 mA) Dalga boyu : Cukα1=1.54059 Å
Kullanım Amacı:
Tek hücrede kasılma aktivitesini ölçmek, biyomekanik ve biyofiziksel araştırmalar yapmak
Yapılan Analizler:
Kasıllama ölçümü, tek hücre düzeyinde fotometrik analiz
Teknik Özellikler:
Ölçüm aralığı: 0.1 – 500 nM, 0.5 nM hassasiyet
Kullanım Amacı:
Tek ışınlı spektrofotometre, konsantrasyonunu, saflığını ve kimyasal özelliklerini belirlemek için bir ışık ışını kullanarak bir maddenin ışık emilimini ölçen bir cihazdır. Tek ışınlı spektrofotometreler UV ile görünür dalga boyu aralığını kapsar ve son derece güvenilir ölçümler sunar.
Yapılan Analizler:
Tek ışınlı spektrofotometre, konsantrasyonunu, saflığını ve kimyasal özelliklerini belirlemek için bir ışık ışını kullanarak bir maddenin ışık emilimini ölçen bir cihazdır. Tek ışınlı spektrofotometreler UV ile görünür dalga boyu aralığını kapsar ve son derece güvenilir ölçümler sunar.
Teknik Özellikler:
Dalga boyu aralığı340-599 nm & 600-950 nmSpektral Bant Genişliği 2nm Dedektör Silikon fotodiyot Görüntülemek 128×64 LCD ekran Mod Absorbans, Transmitans, Enerji Işık kaynağı Tungsten lamba Tuş takımı Membran klavye Çıktı USB girişi Yazıcı Paralel Bağlantı Noktası Boyut(U*G*Y) 490*360*240mm Ağırlık 14 kg
Kullanım Amacı:
Bileşenleri analiz etmek ve şeffaf malzemelerin özelliklerini incelemek ve mineral veya metal numunelerinde farklı fazların tespiti amacıyla kullanılabilir.
Yapılan Analizler:
BYT 37 Polarize Işık Mikroskobu
Teknik Özellikler:
İnce [1 mm] ve orta [4 mm] mikrometre ölçeği arasında hassas odaklama geçişi vardır.
Kullanım Amacı:
JEOL JESFA-300, eşleşmemiş elektronlara sahip paramanyetik türlerin ve serbest radikallerin kalitatif ve kantitatif analizinde kullanılan, yüksek hassasiyetli bir Elektron Spin Rezonans (ESR/EPR) Spektrometresi'dir. Cihaz, elektromanyetik radyasyon ile numunedeki elektron spin durumları arasındaki etkileşimi ölçerek, malzemenin mikroskobik manyetik özellikleri ve kimyasal çevresi hakkında kritik veriler sunar.
Yapılan Analizler:
ESR 01 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Oda Sıcaklığında ESR 02 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 03 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Oda Sıcaklığında ESR 04 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 05 ESR Ölçümü / Örnek Başına Sıcaklık Taraması (-150 °C’den + 150 °C’ye) ESR 06 ESR Ölçümü / Örnek Başına Güç Taraması (7 Farklı Güç Değeri İçin)"
Teknik Özellikler:
Bu spektrometre ile 8.75-9.65 GHz (X-band) mikrodalga bölgesinde, 7x10^9 spin/0.1 mT duyarlılığında, 2.35x10^-6 T veya daha iyi çözünürlükte, 0.0002 mT ile 2 mT modülasyon genliğinde 0 ile ± 500 mT manyetik alan tarama genişliğinde ve 0.1 s ile 12 saat manyetik alan tarama zamanında ölçüm alınabilmektedir. Ayrıca, -150 °C ile +150 °C sıcaklık aralığında JEOL/ES-DVT4 sıvı azot değişken sıcaklık kontrol ünitesi kullanılarak deney yapılabilmesine imkân tanımaktadır.
Kullanım Amacı:
Corning Tek Kullanımlık Steril Filtre Sistemleri, vakum tarzı bir filtre kullanılarak hücre kültürü ortamının, biyolojik sıvıların veya diğer sulu çözeltilerin filtrelenmesi için tasarlanmıştır. Tek kullanımlık steril filtreler, çeşitli membran malzemelerden tasarlanmıştır ve uygulamanızın özelliklerine uyacak şekilde geniş bir gözenek boyutu yelpazesinde mevcuttur.
Yapılan Analizler:
Corning Tek Kullanımlık Steril Filtre Sistemleri, vakum tarzı bir filtre kullanılarak hücre kültürü ortamının, biyolojik sıvıların veya diğer sulu çözeltilerin filtrelenmesi için tasarlanmıştır. Tek kullanımlık steril filtreler, çeşitli membran malzemelerden tasarlanmıştır ve uygulamanızın özelliklerine uyacak şekilde geniş bir gözenek boyutu yelpazesinde mevcuttur.
Teknik Özellikler:
500 mL Düşük sıvı tutma hunisi tasarımı. Çoğu cam ve plastik ortam saklama şişesine uyması için 33 mm ve 45 mm boyun boyutlarında mevcuttur. 45 mm boyun boyutları yalnızca 2L ve daha küçük boyutlarda kullanılmak üzere Corning® cam 1395 şişelere uyar. Ön filtreler ayrı olarak sipariş edilmelidir. Tek tek paketlenmiştir. Sterildir. Pirojenik değildir.
Kullanım Amacı:
JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi.
Yapılan Analizler:
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik Özellikler:
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)
Kullanım Amacı:
Saya Dikimi
Yapılan Analizler:
Saya Dikimi
Teknik Özellikler:
Otomatik Ayak Kaldırma, Ekstra Güçlendirilmiş Motor, İp Kesmeli
Kullanım Amacı:
Saya Dikimi
Yapılan Analizler:
Saya Dikimi
Teknik Özellikler:
Otomatik Ayak Kaldırma, Ekstra Güçlendirilmiş Motor, İp Kesmeli
Kullanım Amacı:
Saya Dikimi
Yapılan Analizler:
Saya Dikimi
Teknik Özellikler:
Otomatik Ayak Kaldırma, Ekstra Güçlendirilmiş Motor, İp Kesmeli