Arama terimi "Seçili Bölge Elektron Difraksiyonu (SAED)" için toplam 5 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM)" (Marka/Model: JEOL/JEM-2100). Bu cihaz temel olarak "JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 3 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Görüntüleme, Spektroskopi, Spektroskopi Laboratuvarı. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi.
Yapılan Analizler:
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik Özellikler:
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)
Kullanım Amacı:
ZEISS EVO LS10, malzeme bilimi, yer bilimleri ve yaşam bilimleri araştırmalarında kullanılmak üzere tasarlanmış, yüksek esnekliğe sahip bir Taramalı Elektron Mikroskobudur (SEM). Cihaz, iletken olmayan veya hazırlık aşamasında kaplama yapılamayan hassas numunelerin doğal hallerine en yakın şekilde incelenmesine olanak tanır. Bu cihazla mikro ve nanometre ölçeğindeki malzemelerin morfolojik görüntülemesi, EDX (Enerji Dağılımlı X-Işını) dedektörü aracılığıyla, numune yüzeyindeki noktasal, çizgisel veya alan bazlı elementel analizler ve kimyasal haritalama çalışmaları yapılabilmektedir.
Yapılan Analizler:
SEM 01- SE_VPSE_BSD_STEM dedektör SEM 02- EDX - Harita_nokta_ çizgi_alan
Teknik Özellikler:
0,1 – 30 kV hızlandırma voltajı 310 mm (Ø) x 220 mm (Ø) ölçülerine sahip chamber 100 mm maksimum numune yüksekliği 230 mm maksimum numune genişliği 80 x 100 x 35 mm (XYZ) motorize stage dolaşımı Thermionic emisyon W veya LaB6 elektron kaynağı (gun) kullanımı 3 nm 30 kV / 20 nm 1kV çözünürlük
Kullanım Amacı:
JEOL JESFA-300, eşleşmemiş elektronlara sahip paramanyetik türlerin ve serbest radikallerin kalitatif ve kantitatif analizinde kullanılan, yüksek hassasiyetli bir Elektron Spin Rezonans (ESR/EPR) Spektrometresi'dir. Cihaz, elektromanyetik radyasyon ile numunedeki elektron spin durumları arasındaki etkileşimi ölçerek, malzemenin mikroskobik manyetik özellikleri ve kimyasal çevresi hakkında kritik veriler sunar.
Yapılan Analizler:
ESR 01 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Oda Sıcaklığında ESR 02 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 03 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Oda Sıcaklığında ESR 04 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 05 ESR Ölçümü / Örnek Başına Sıcaklık Taraması (-150 °C’den + 150 °C’ye) ESR 06 ESR Ölçümü / Örnek Başına Güç Taraması (7 Farklı Güç Değeri İçin)"
Teknik Özellikler:
Bu spektrometre ile 8.75-9.65 GHz (X-band) mikrodalga bölgesinde, 7x10^9 spin/0.1 mT duyarlılığında, 2.35x10^-6 T veya daha iyi çözünürlükte, 0.0002 mT ile 2 mT modülasyon genliğinde 0 ile ± 500 mT manyetik alan tarama genişliğinde ve 0.1 s ile 12 saat manyetik alan tarama zamanında ölçüm alınabilmektedir. Ayrıca, -150 °C ile +150 °C sıcaklık aralığında JEOL/ES-DVT4 sıvı azot değişken sıcaklık kontrol ünitesi kullanılarak deney yapılabilmesine imkân tanımaktadır.
Kullanım Amacı:
UV-VIS aralığı için taramalı çift ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır.
Yapılan Analizler:
Belli bir dalga boyunda absorbans ölçümü ve spektrum eldesi, fotometrik analiz, kantitatif analiz, kinetik analiz çalışmalarında kullanılabilir.
Teknik Özellikler:
UV-VIS aralığı için taramalı çift ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır.
Kullanım Amacı:
UV-VIS aralığı için tek ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır.
Yapılan Analizler:
Belli bir dalga boyunda absorbans ölçümü ve spektrum eldesi, fotometrik analiz, kantitatif analiz, kinetik analiz çalışmalarında kullanılabilir.
Teknik Özellikler:
UV-VIS aralığı için tek ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır.