Yerel vektör benzerliği ile analiz yapılır.
Arama terimi "Elektron Mikroskobu Hazırlığı" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "Ameliyat Mikroskobu" (Marka/Model: Ameliyat Mikroskobu). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: marka model alanında yüksek benzerlik, cihaz adi alanında yüksek benzerlik, kullanim amaci alanında yüksek benzerlik, yapilan analizler alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "Ameliyat Mikroskobu" amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 7 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Laboratuvar (Genel), Görüntüleme, Termal Analiz, Yüzey Karakterize, Biyoteknoloji, Gıda Kalite Kontrol Laboratuvarı, Klinik Öncesi Bilimler. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Ameliyat Mikroskobu · Laboratuvar (Genel)
Kullanım amacı
Ameliyat Mikroskobu
Yapılan analizler
Ameliyat Mikroskobu
Teknik özellikler
Teknik özelliklerOptik SistemApochromat veya Achromat yüksek çözünürlüklü optikler5–7 kademeli zoom sistemi0.4x – 2.5x arası değişebilen büyütme200–400 mm odak uzaklığına sahip objektifDerinlik artırma (Depth of Field) moduAnti-reflektif kaplama ile net görüntü2. Aydınlatma SistemiKoaksiyel LED veya Halojen ışık kaynağıLED ışık gücü genellikle 80.000 – 120.000 LuxFiber optik ışık ile homojen aydınlatmaYedek ışık kaynağı (çift lamba sistemi)Isı üretmeyen soğuk ışık3. Mekanik / Yapısal ÖzelliklerDengeli, elektromekanik veya manuel taşıyıcı kolTavan, duvar veya zemin tipi yapı seçenekleriMotorlu odak (motorized focus)Hassas mikro-manipülasyon kolu360° dönebilen optik kafaAnti-vibrasyon tasarım4. Görüntü Alma ve KaydetmeFull HD veya 4K kamera entegre opsiyonuSD kart veya USB’ye kayıtHDMI çıkışıHarici ekrana canlı görüntü aktarımı5. Kullanıcı ArayüzüDokunmatik kontrol paneliHafıza kaydı (cerrahın tercih ettiği pozisyonu kaydedebilme)Otomatik ışık optimizasyonu6. Ek ÖzelliklerAsistan mikroskobu bağlantı portuFluoresans modu (opsiyonel — özellikle beyin cerrahisinde)Steril tutma saplarıFiltre seçenekleri:Yeşil filtreSarı filtreIR/UV koruma filtresi7. Güvenlik ve DayanıklılıkYüksek stabilite sağlayan ağır şaseElektriksel aşırı yük korumasıCE veya FDA uyumluluğu
JEOL/JEM-2100 · Görüntüleme
Kullanım amacı
JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi.
Yapılan analizler
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik özellikler
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)
ZEISS/EVO LS10 · Görüntüleme
Kullanım amacı
ZEISS EVO LS10, malzeme bilimi, yer bilimleri ve yaşam bilimleri araştırmalarında kullanılmak üzere tasarlanmış, yüksek esnekliğe sahip bir Taramalı Elektron Mikroskobudur (SEM). Cihaz, iletken olmayan veya hazırlık aşamasında kaplama yapılamayan hassas numunelerin doğal hallerine en yakın şekilde incelenmesine olanak tanır. Bu cihazla mikro ve nanometre ölçeğindeki malzemelerin morfolojik görüntülemesi, EDX (Enerji Dağılımlı X-Işını) dedektörü aracılığıyla, numune yüzeyindeki noktasal, çizgisel veya alan bazlı elementel analizler ve kimyasal haritalama çalışmaları yapılabilmektedir.
Yapılan analizler
SEM 01- SE_VPSE_BSD_STEM dedektör SEM 02- EDX - Harita_nokta_ çizgi_alan
Teknik özellikler
0,1 – 30 kV hızlandırma voltajı 310 mm (Ø) x 220 mm (Ø) ölçülerine sahip chamber 100 mm maksimum numune yüksekliği 230 mm maksimum numune genişliği 80 x 100 x 35 mm (XYZ) motorize stage dolaşımı Thermionic emisyon W veya LaB6 elektron kaynağı (gun) kullanımı 3 nm 30 kV / 20 nm 1kV çözünürlük
LEICA / EM FC7 · Termal Analiz
Kullanım amacı
Numune hazırlama, İnce kesit alma
Yapılan analizler
TEM 02 Cam Bıçak Ultra Mikrotom Numune Hazırlama TEM 03 Elmas Bıçak Ultra Mikrotom Numune Hazırlama
Teknik özellikler
+ 110 °C / -185 °C , Elmas, Cam Bıçak
NT-MDT / Ntegra Solaris · Yüzey Karakterize
Kullanım amacı
Sivriltilmiş bir iğne ucu kullanılarak, yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan bir tekniktir. Yüzeyleri atomik veya moleküler düzeyde inceleyerek nanometre ölçeğindeki detayları göstermek, materyallerin mekanik özelliklerini karakterize etmek ve biyolojik örnekler üzerinde çalışmak için kullanılmaktadır.
Yapılan analizler
AFM 01 Atomik Kuvvet Mikroskop AFM 02 Kelvin Prop Mikroskop (KFM) AFM 03 Manyetik Kuvvet Mikroskop (MFM) AFM 04 Elektrostatik Kuvvet Mikroskop (EFM) AFM 05 Sıvı Hücrede Ölçüm AFM 06 Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) AFM 07 Taramalı Tünelleme Mikroskop (STM)
Teknik özellikler
*Temaslı (contact) ve vurmalı (semi-contact) olmak üzere iki ana teknik kullanılmaktadır. *Tarama Alanı / Dikey İnceleme Alanı 100µm x 100µm / 5.0µm 10µm x 10µm / 2.5µm 1µm x 1µm / 1.0 µm *Çalışma Modları; Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Probe Mikroskobu (KPFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Force Modulation Mikroskobu (FMM), Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) (440 nm), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), biyolojik örnekler için sıvı içinde tarama, Sıcaklık (-25°C - 250°C) uygulayarak görüntüleme ve analiz imkanları sunmaktadır.
OLYMPUS CX21 · Biyoteknoloji
Kullanım amacı
Görüntüleri büyütmek, yapıları gözlemlemek ve analiz etmek için kullanılr.
Yapılan analizler
BYT 38 Hücre Kültür Lab Genel Kullanımı
Teknik özellikler
4x, 10x, 40x ve 100x objektifleri mevcuttur.
OLYMPUS/COVER 015 · Gıda Kalite Kontrol Laboratuvarı
Kullanım amacı
Mikroorganizmaların incelenmesi
Yapılan analizler
Mikroorganizmaların gözlemlenmesi
Teknik özellikler
KRÜSS · Gıda Kalite Kontrol Laboratuvarı
Kullanım amacı
Mikroorganizmaların incelenmesi
Yapılan analizler
Mikroorganizmaların incelenmesi
Teknik özellikler
CETI · Gıda Kalite Kontrol Laboratuvarı
Kullanım amacı
Mikroorganizmaların incelenmesi
Yapılan analizler
Mikroorganizmaların incelenmesi
Teknik özellikler
LEİCA CH2 · Klinik Öncesi Bilimler
Kullanım amacı
Görüntüleme
Yapılan analizler
Çıplak gözle görülemeyecek kadar küçük parazitlerin birkaç çeşit mercek yardımıyla büyütülerek görüntüsünün incelenmesini sağlar.
Teknik özellikler
Leica CH2 led aydınlatma, yedek lamba maliyetini azaltır ve soğuk ışık sağlar. Mekanik tablası yüksek büyütme de örnek hareketi için X/Y kontrolü ve iki numune lamı yerleştirme kapasitesi sağlar. Başlıklar yönlendirilebilir ve değiştirilebilir opsiyonuyla kullanım kolaylığı sağlar.