Arama terimi "Kristal kafesi" için toplam 4 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "X-Işını Difraktometresi (XRD)" (Marka/Model: BRUKER / D8 ADVANCE). Bu cihaz temel olarak "Bruker D8 ADVANCE, malzeme biliminden yer bilimlerine kadar geniş bir yelpazede kullanılan, X-ışını kırınımı prensibine dayalı çok amaçlı ve yüksek performanslı bir X-Işını Difraktometresi (XRD) sistemidir. Bu cihaz, kristal yapıların aydınlatılması ve faz analizlerinin yüksek hassasiyetle gerçekleştirilmesini sağlar." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 3 farklı kategoriden cihazları içeriyor: X-Işınları Analizi, Görüntüleme, Spektroskopi. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
Bruker D8 ADVANCE, malzeme biliminden yer bilimlerine kadar geniş bir yelpazede kullanılan, X-ışını kırınımı prensibine dayalı çok amaçlı ve yüksek performanslı bir X-Işını Difraktometresi (XRD) sistemidir. Bu cihaz, kristal yapıların aydınlatılması ve faz analizlerinin yüksek hassasiyetle gerçekleştirilmesini sağlar.
Yapılan Analizler:
XRD 01 Kırınım Deseni Çekimi XRD 02 Nitel Analiz XRD 03 Kırınım Deseni Analizi XRD 04 Reflektivite Analizi XRD 05 Kantitatif Analiz XRD 06 Yarı Kantitatif Analiz (%)
Teknik Özellikler:
Jeneratör ve dedektör: Bruker D8 advance (Lynxeye dedector) Tüp: Cu (40 Kv – 40 mA) Dalga boyu : Cukα1=1.54059 Å
Kullanım Amacı:
Bileşenleri analiz etmek ve şeffaf malzemelerin özelliklerini incelemek ve mineral veya metal numunelerinde farklı fazların tespiti amacıyla kullanılabilir.
Yapılan Analizler:
BYT 37 Polarize Işık Mikroskobu
Teknik Özellikler:
İnce [1 mm] ve orta [4 mm] mikrometre ölçeği arasında hassas odaklama geçişi vardır.
Kullanım Amacı:
JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi.
Yapılan Analizler:
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik Özellikler:
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)
Kullanım Amacı:
JEOL JESFA-300, eşleşmemiş elektronlara sahip paramanyetik türlerin ve serbest radikallerin kalitatif ve kantitatif analizinde kullanılan, yüksek hassasiyetli bir Elektron Spin Rezonans (ESR/EPR) Spektrometresi'dir. Cihaz, elektromanyetik radyasyon ile numunedeki elektron spin durumları arasındaki etkileşimi ölçerek, malzemenin mikroskobik manyetik özellikleri ve kimyasal çevresi hakkında kritik veriler sunar.
Yapılan Analizler:
ESR 01 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Oda Sıcaklığında ESR 02 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 03 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Oda Sıcaklığında ESR 04 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 05 ESR Ölçümü / Örnek Başına Sıcaklık Taraması (-150 °C’den + 150 °C’ye) ESR 06 ESR Ölçümü / Örnek Başına Güç Taraması (7 Farklı Güç Değeri İçin)"
Teknik Özellikler:
Bu spektrometre ile 8.75-9.65 GHz (X-band) mikrodalga bölgesinde, 7x10^9 spin/0.1 mT duyarlılığında, 2.35x10^-6 T veya daha iyi çözünürlükte, 0.0002 mT ile 2 mT modülasyon genliğinde 0 ile ± 500 mT manyetik alan tarama genişliğinde ve 0.1 s ile 12 saat manyetik alan tarama zamanında ölçüm alınabilmektedir. Ayrıca, -150 °C ile +150 °C sıcaklık aralığında JEOL/ES-DVT4 sıvı azot değişken sıcaklık kontrol ünitesi kullanılarak deney yapılabilmesine imkân tanımaktadır.