Arama terimi "Enerji Emilim Analizi" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM)" (Marka/Model: JEOL/JEM-2100). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: yapilan analizler alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 7 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Görüntüleme, 325 No'lu Laboratuvar, Genel Uygulama Laboratuvarı, Elektrik Makineleri Laboratuvarı, Mekanik Test Laboratuvarı, Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325), Kimyasal Analiz. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
JEM-2100, 200 kV hızlandırıcı gerilim kapasitesine sahip, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas analiz yetkinliklerini bünyesinde barındıran çok amaçlı bir Analitik Geçirimli Elektron Mikroskobudur (TEM). Cihaz, malzeme bilimi ve yaşam bilimleri araştırmalarında ileri düzey karakterizasyon olanakları sunmaktadır. Temel Uygulama ve Karakterizasyon Alanları Nanoyapısal ve Kristalografik Analiz: Materyallerin iç yapılarının atomik ölçekte görüntülenmesi; kristal sistemlerinin, kafes kusurlarının, tane sınırlarının ve faz arayüzlerinin yüksek çözünürlükte incelenmesi. Nanomalzeme Karakterizasyonu: Nanometre ölçeğindeki sentezlenmiş veya doğal malzemelerin morfolojik özelliklerinin ve yapısal bütünlüklerinin tayini. Elementel ve Kimyasal Kompozisyon: Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS/EDX) gibi entegre tekniklerle, numunelerin kalitatif ve kantitatif kimyasal analizi ile elementel dağılım haritalandırılması. Biyomedikal ve Biyolojik Araştırmalar: Hücresel organellerin, viral partiküllerin, bakteriyel ultrastrüktürlerin ve diğer biyolojik makromoleküllerin yüksek kontrastlı yapısal analizi.
Yapılan Analizler:
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik Özellikler:
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)
Kullanım Amacı:
Gaz numune analizi yapılır.
Yapılan Analizler:
Hidrojen miktar analizi
Teknik Özellikler:
Kolon Fırın Sıcaklığı: (Oda sıcaklığı + 4°C) ila 450°C Taşıyıcı Gaz Kontrolü: Elektronik akış kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Akış Kontrol Cihazı Dedektör Gaz Kontrolü: Elektronik basınç kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Basınç Kontrolörü Numune Enjektörü: Bölmeli/Bölmesiz, Direkt, Kolon Üstü/Programlanabilir Sıcaklık Buharlaştırıcı Enjeksiyon Dedektörleri : FID, BID, TCD, ECD, FPD, FTD (NPD), MS. İsteğe bağlı, 12 flakon veya 150 flakon kapasiteli sıvı otomatik örnekleyici Opsiyonel otomatik Baş Boşluğu, SPME, Tahliye ve Tuzak, Termal Desorber ve Piroliz Ünitesi
Kullanım Amacı:
elek analizi
Yapılan Analizler:
elek analizi
Teknik Özellikler:
100 mikron ve üzeri ürünleri elemeye uygun 1 alt tas olmak üzere 7 adet elek kapasitesi bulunmakta,38 x 41 x 68 cm boyutlarında ve22.5 kg ağırlığındadır.
Kullanım Amacı:
ZEISS EVO LS10, malzeme bilimi, yer bilimleri ve yaşam bilimleri araştırmalarında kullanılmak üzere tasarlanmış, yüksek esnekliğe sahip bir Taramalı Elektron Mikroskobudur (SEM). Cihaz, iletken olmayan veya hazırlık aşamasında kaplama yapılamayan hassas numunelerin doğal hallerine en yakın şekilde incelenmesine olanak tanır. Bu cihazla mikro ve nanometre ölçeğindeki malzemelerin morfolojik görüntülemesi, EDX (Enerji Dağılımlı X-Işını) dedektörü aracılığıyla, numune yüzeyindeki noktasal, çizgisel veya alan bazlı elementel analizler ve kimyasal haritalama çalışmaları yapılabilmektedir.
Yapılan Analizler:
SEM 01- SE_VPSE_BSD_STEM dedektör SEM 02- EDX - Harita_nokta_ çizgi_alan
Teknik Özellikler:
0,1 – 30 kV hızlandırma voltajı 310 mm (Ø) x 220 mm (Ø) ölçülerine sahip chamber 100 mm maksimum numune yüksekliği 230 mm maksimum numune genişliği 80 x 100 x 35 mm (XYZ) motorize stage dolaşımı Thermionic emisyon W veya LaB6 elektron kaynağı (gun) kullanımı 3 nm 30 kV / 20 nm 1kV çözünürlük
Kullanım Amacı:
Elektrik şebekesindeki enerji tüketimini ve kalite parametrelerini ölçmek için kullanılır. Gerilim, akım, güç faktörü, aktif ve reaktif güç gibi değerleri analiz ederek şebekenin performansını değerlendirir. Özellikle enerji yönetimi, sistem optimizasyonu ve arıza tespiti süreçlerinde yaygın olarak kullanılır.
Yapılan Analizler:
Şebekedeki gerilim ve akım değerlerini ölçerek aktif, reaktif ve görünür güç analizleri yapabilir. Güç faktörü ölçümleriyle enerji verimliliğini değerlendirebilir ve harmonik analiz yoluyla şebeke kalitesini etkileyen bozulmaları tespit edebilir. Ayrıca, enerji tüketim trendlerini izleyerek enerji yönetim sistemlerine veri sağlayabilir ve sistem performansını optimize etmek için detaylı analizler gerçekleştirebilir.
Teknik Özellikler:
A - V - W - VAR - VA - COSφ - Hz - kWh - kVARh - ΣA - ΣW - ΣVAR - ΣVA - LN - LL
Kullanım Amacı:
Darbe test cihazı, malzemelerin darbe etkisi altında kırılma davranışını ve enerji soğurma kapasitesini ölçmek için kullanılır. Malzemenin süneklik-gevreklik özelliklerini belirlemek ve çentik hassasiyetini değerlendirmek amacıyla kalite kontrol ve araştırmalarda tercih edilir. Özellikle otomotiv, inşaat ve havacılık sektörlerinde, güvenlik ve dayanıklılığı artırmaya yönelik malzeme seçiminde önemli bir rol oynar.
Yapılan Analizler:
Darbe test cihazı, malzemelerin çentik dayanımı ve darbe enerjisi absorpsiyon kapasitesini analiz ederek süneklik ve gevreklik özelliklerini değerlendirir. Farklı sıcaklık ve yükleme koşullarında malzemenin sünek-gevrek geçiş sıcaklığı, kırılma modları ve enerji absorpsiyon davranışını belirler. Ayrıca, çentik tipi, malzeme yapısı ve işlem geçmişinin darbe dayanımına etkilerini detaylı bir şekilde analiz ederek tasarım süreçlerine katkı sağlar.
Teknik Özellikler:
Boyut: 550mm×350mm×850mm, Ağırlık: 160kg
Kullanım Amacı:
Nanomalzemelerin partikül boyut analizi
Yapılan Analizler:
Çeşitli nanomalzemelerin partikül boyut analizinin belirlenmesi
Teknik Özellikler:
1 nm'den 6 μm'ye kadar partikül boyutlandırma, 35 mW yüksek hassasiyetli lazer dedektör
Kullanım Amacı:
Gaz numunelerin miktar tayini yapılır.
Yapılan Analizler:
Gaz numune analizi, Hidrojen miktar analizi
Teknik Özellikler:
2D kod navigasyonuTek dokunuşla girişClean pilot işleviAkıllı telefon üzerinden GC kontrolüBID dedektörüGaz seçici ile taşıyıcı gazların seçimi
Kullanım Amacı:
PPM mertebesinde elemental analiz
Yapılan Analizler:
ICP OES 01 ICP-OES Analizi (1-10 Element arası) ICP OES 02 ICP-OES Analizi (11-30 Element arası) ICP OES 03 ICP-OES Analizi (31-50 Element arası) ICP OES 04 ICP-OES Analizi (51-(+) Element)
Teknik Özellikler:
Dalga boyu aralığı: 165-1100 nanometre (nm)
Kullanım Amacı:
PPB/PPT mertebesinde elementel analiz
Yapılan Analizler:
ICP MS 01 ICP-MS Analizi (1-10 Element arası) ICP MS 02 ICP-MS Analizi (11-30 Element arası) ICP MS 03 ICP-MS Analizi (31-50 Element arası ICP MS 04 ICP-MS Analizi (51-(+) Element)
Teknik Özellikler:
Kütle Aralığı: 2-260 atomic mass unit (amu)