Arama terimi "Malzeme yüzey analiz cihazları" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "Ultraviyole (UV) ve Görünür Bölge (VIS) Spektrometre" (Marka/Model: Perkin Elmer). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "UV-VIS aralığı için taramalı çift ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 8 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Spektroskopi Laboratuvarı, Yüzey Karakterize, Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325), Farmasötik Kimya, Mekanik Test Laboratuvarı, Lüminesans-ESR Laboratuvarı, Kromatografi, BİYOFİZİK LAB.. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
UV-VIS aralığı için taramalı çift ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır.
Yapılan Analizler:
Belli bir dalga boyunda absorbans ölçümü ve spektrum eldesi, fotometrik analiz, kantitatif analiz, kinetik analiz çalışmalarında kullanılabilir.
Teknik Özellikler:
UV-VIS aralığı için taramalı çift ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır.
Kullanım Amacı:
İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır.
Yapılan Analizler:
PRM 01 Film kalınlığı 2D Ölçüm PRM 02 Haraitalama ve Yüzey Pürüzlülüğü (3D Ölçüm)
Teknik Özellikler:
2,5 µm hassasiyetindeki prob ile yüzey üzerinde tarama yapılarak 2D ve 3D topografik verilerin hızlı bir şekilde alındığı sistemlerdir. 500 µm - 150 mm tarama aralığına sahiptir. Kalın ve ince film yüzeyleri ( pürüzlülük, dalgalanmalar, yüzey hataları) hakkında bilgi vermenin yanı sıra adım yüksekliği ve adım aralığını yüksek çözünürlükte ölçebilmektedir.
Kullanım Amacı:
Yüzey gerilimi, ara yüzey gerilimi ve serbest yüzey enerjisi ölçümleri; ıslanabilirlik, sıvı emilimi, sıvıyı yüzeyde tutma, sıvı yayılması, yüzey temizliği, hakkında bilgi verir.
Yapılan Analizler:
TAÖ 01 Temas Açısı Ölçümü TAÖ 02 Yüzey serbest enerjisi
Teknik Özellikler:
Temas Açısı ölçüm cihazı ile damla görüntülerini kaydederek zamana bağlı damla şeklini otomatik olarak analiz eder.
Kullanım Amacı:
Su temas açısı ölçümü
Yapılan Analizler:
Yüzeylerin su temas ölçümü yapılarak hidrofilikliğinin belirlenmesi
Teknik Özellikler:
4-180° temas açısı ölçüm aralığı, ±1° ölçüm hassasiyeti
Kullanım Amacı:
Spektrofotometre Shimadzu UV-1800 Ultraviyole ve görünür dalga boyu aralığındaki ışığı absorbe etme özelliklerine göre maddeleri analiz etmek 190-1100 nm arası dalga boyuna sahip bileşiklerin kalitatif ve kantitatif analizleri
Yapılan Analizler:
Spektrofotometre Shimadzu UV-1800 Ultraviyole ve görünür dalga boyu aralığındaki ışığı absorbe etme özelliklerine göre maddeleri analiz etmek 190-1100 nm arası dalga boyuna sahip bileşiklerin kalitatif ve kantitatif analizleri
Teknik Özellikler:
Spektrofotometre Shimadzu UV-1800 Ultraviyole ve görünür dalga boyu aralığındaki ışığı absorbe etme özelliklerine göre maddeleri analiz etmek 190-1100 nm arası dalga boyuna sahip bileşiklerin kalitatif ve kantitatif analizleri
Kullanım Amacı:
Sivriltilmiş bir iğne ucu kullanılarak, yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan bir tekniktir. Yüzeyleri atomik veya moleküler düzeyde inceleyerek nanometre ölçeğindeki detayları göstermek, materyallerin mekanik özelliklerini karakterize etmek ve biyolojik örnekler üzerinde çalışmak için kullanılmaktadır.
Yapılan Analizler:
AFM 01 Atomik Kuvvet Mikroskop AFM 02 Kelvin Prop Mikroskop (KFM) AFM 03 Manyetik Kuvvet Mikroskop (MFM) AFM 04 Elektrostatik Kuvvet Mikroskop (EFM) AFM 05 Sıvı Hücrede Ölçüm AFM 06 Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) AFM 07 Taramalı Tünelleme Mikroskop (STM)
Teknik Özellikler:
*Temaslı (contact) ve vurmalı (semi-contact) olmak üzere iki ana teknik kullanılmaktadır. *Tarama Alanı / Dikey İnceleme Alanı 100µm x 100µm / 5.0µm 10µm x 10µm / 2.5µm 1µm x 1µm / 1.0 µm *Çalışma Modları; Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Probe Mikroskobu (KPFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Force Modulation Mikroskobu (FMM), Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) (440 nm), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), biyolojik örnekler için sıvı içinde tarama, Sıcaklık (-25°C - 250°C) uygulayarak görüntüleme ve analiz imkanları sunmaktadır.
Kullanım Amacı:
Otomatik dijital Rockwell ve Brinell sertlik ölçme cihazı, malzemelerin sertlik değerlerini hassas ve hızlı bir şekilde ölçmek için kullanılır. Rockwell ve Brinell test yöntemleriyle farklı malzeme türlerinde yüzey sertliği ve mekanik dayanım özelliklerini belirler. Özellikle metalurji, otomotiv ve inşaat sektörlerinde kalite kontrol ve malzeme seçimi süreçlerinde yaygın olarak tercih edilir.
Yapılan Analizler:
Otomatik dijital Rockwell ve Brinell sertlik ölçme cihazı, malzemelerin yüzey sertliğini farklı yükleme ve indenter tipleriyle analiz ederek mekanik dayanımını belirler. Rockwell yöntemiyle daha ince malzemelerde yüzey sertliğini ölçerken, Brinell yöntemiyle kalın ve homojen malzemelerin derinlemesine sertlik analizini yapabilir. Ayrıca, otomatik dijital özellikleri sayesinde test sonuçlarını hızlı ve doğru bir şekilde kaydederek farklı malzeme türleri arasında karşılaştırmalı analizlere olanak tanır.
Teknik Özellikler:
Cihaz ile 62.5,150 ve 187,5 kgf gibi farklı yükler altında numunelerin Rockwell, Makro Vickers ve Brinell sertlik değerleri belirlenebilmektedir.
Kullanım Amacı:
Hem termolüminesans (TL) hem de optiksel uyarılmayla lüminesans (OSL) ölçümleri yapılabilmektedir.
Yapılan Analizler:
Malzeme karakterizasyonu Dozimetri belirleme ve doz ölçümü (doğal ve yapay malzemelerde radyasyon dozlarının belirlenmesi) Lüminesans malzeme tayini
Teknik Özellikler:
Cihazın TL/OSL okuyucusu, 200 ile 400 nm arasında maksimum algılama verimliliğine sahip ‘Blue/UV’ duyarlı elektron tüpü PMT ile donatılmış ve hem quartz hem de feldispattan (feldspar) lüminesans tespiti için uygundur. Cihaz 48 özgün numuneye kadar otomatik olarak okuyabilecek bir sisteme sahiptir Cihazın ısıtma sistemi 0.1 °C ile 10 °C/s sabit ısıtma oranlarında 700 °C ye kadar numuneleri ısıtabilme özelliğine sahiptir. Örnekler isteğe bağlı yazılım kontrollü ışınlama kaynakları kullanılarak yerinde ışınlanabilir: Işınlama kaynakları: Sr-90 beta source (1.48 GBq) ve Sr-90 beta source (37 MBq)
Kullanım Amacı:
Gaz kromatografi, bir karışımda gaz halinde bulunan veya kolayca gaz haline geçebilen bileşenlerin birbirinden ayrıştırılması ve bu bileşenlerin kalitatif veya kantitatif olarak tayin edilmesinde kullanılır.
Yapılan Analizler:
GC 30 Kalitatif Analiz GC 31 Kantitatif Analiz GC 32 Kantitatif Analiz İlave Bileşen Başına GC 33 Yöntem Geliştirme GC 34 Hidrojen Gazı Tayini
Teknik Özellikler:
—Shimadzu- GC-2010 Plus, TCD (Termal İletkenlik Dedektörü) dedektörüne sahiptir. —Cihazda taşıyıcı gaz olarak yüksek saflıkta Argon (Ar) kullanılmaktadır. —Cihazda enjeksiyon işlemi manuel olarak yapılmaktadır. —Kolon Fırını Sıcaklığı: ( Oda sıcaklığı + 4°C ) ~ 450°C —Taşıyıcı Gaz Kontrolü: Elektronik akış kontrol ünitesi ile dijital ayarlama —AFC (İleri Akış Kontrolü) —Numune Enjektörü: Ayırma/Ayırmama (Split/Splitless) —Direkt, Doğrudan Kolona enjeksiyon —Programlanabilir Sıcaklıklı Buharlaştırma Enjektörü (OCI/PTV) —İyonizasyon Voltajı: 20-200 Ev —Isıtma Hızı 1- 120 ºC/dakika.
Kullanım Amacı:
Metalurji araştırmaları, malzeme bilimi, metal yüzey incelemeleri.
Yapılan Analizler:
Metal yüzey analizleri, mikro yapı analizi
Teknik Özellikler:
Metal yüzeylerin mikroskobik analizini yapan cihaz. Metalin mikro yapısını analiz eder.