"Yüzey topografyası için Kromatografi cihazları" arama sonuçları 10 sonuç
Analiz

Arama terimi "Yüzey topografyası için Kromatografi cihazları" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "STYLUS Profilometre" (Marka/Model: NanoMap/ LS). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 6 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Yüzey Karakterize, Viroloji Araştırma Laboratuvarı, Mekanik Testler, Tanecik Karakterize, MİKROBİYOLOJİ-BİYOKİMYA ARAŞTIRMA LABORATUVARI, Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325). Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.

STYLUS Profilometre En uygun

NanoMap/ LS · Yüzey Karakterize

2.7 puan

Kullanım amacı

İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır.

Yapılan analizler

PRM 01 Film kalınlığı 2D ÖlçümPRM 02 Haraitalama ve Yüzey Pürüzlülüğü (3D Ölçüm)

Teknik özellikler

2,5 µm hassasiyetindeki prob ile yüzey üzerinde tarama yapılarak 2D ve 3D topografik verilerin hızlı bir şekilde alındığı sistemlerdir. 500 µm - 150 mm tarama aralığına sahiptir. Kalın ve ince film yüzeyleri  ( pürüzlülük, dalgalanmalar, yüzey hataları) hakkında bilgi vermenin yanı sıra adım yüksekliği ve adım aralığını yüksek çözünürlükte ölçebilmektedir.

Yüzey ProfilometrisiYüzey pürüzlülüğüYüzey topografyasıYüzey şekil bozukluğuYüzey morfolojisi2D yüzey ölçümü3D yüzey ölçümüYüzey yüksekliğiNanopürüzlülükYüzey şekil analiziMikrometre çözünürlüğüRoughness (Pürüzlülük) parametreleriRzRaRq ölçümleriPolimerlerMetallerSeramiklerCam yüzeyleriYüzey kaplamalarıYüzey boyamaKompozit malzemelerYüzey kaplama filmleriNanomalzemelerMikroelektronik devrelerMikro ve nano yapılarİnce film kaplamalar
Aktif Dış kullanım açık
Atomik Kuvvet Mikroskobu

NT-MDT / Ntegra Solaris · Yüzey Karakterize

2.57 puan

Kullanım amacı

Sivriltilmiş bir iğne ucu kullanılarak, yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan bir tekniktir. Yüzeyleri atomik veya moleküler düzeyde inceleyerek nanometre ölçeğindeki detayları göstermek, materyallerin mekanik özelliklerini karakterize etmek ve biyolojik örnekler üzerinde çalışmak için kullanılmaktadır. 

Yapılan analizler

AFM 01 Atomik Kuvvet Mikroskop AFM 02 Kelvin Prop Mikroskop (KFM)AFM 03 Manyetik Kuvvet Mikroskop (MFM)AFM 04 Elektrostatik Kuvvet Mikroskop (EFM)AFM 05 Sıvı Hücrede ÖlçümAFM 06 Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) AFM 07 Taramalı Tünelleme Mikroskop (STM)

Teknik özellikler

*Temaslı (contact) ve vurmalı (semi-contact) olmak üzere iki ana teknik kullanılmaktadır. *Tarama Alanı / Dikey İnceleme Alanı     100µm x 100µm / 5.0µm     10µm x 10µm / 2.5µm     1µm x 1µm / 1.0 µm*Çalışma Modları; Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Probe Mikroskobu (KPFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Force Modulation Mikroskobu (FMM), Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) (440 nm), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), biyolojik örnekler için sıvı içinde tarama, Sıcaklık (-25°C - 250°C) uygulayarak  görüntüleme ve analiz imkanları sunmaktadır.

Yüzey topografyasıRoughness (Pürüzlülük) parametreleriYüzey analiziNanoyapılarMekanik özelliklerTopografik görüntülemeYüzey ProfilometrisiYüzey pürüzlülüğüYüzey topografyasıYüzey şekil bozukluğuYüzey morfolojisi2D yüzey ölçümü3D yüzey ölçümüYüzey özellikleriYüzey kuvvetiYüzey pürüzlülüğüKuvvet spektroskopisiYüzey etkileşimleriMikroskopik ölçümlerYüzey morfolojisiPolimerlerNanoparçacıklarNanotellerGrafenKarbon NanotüplerMetallerSeramiklerYüzey KaplamalarıBiyolojik NumunelerKompozit MalzemelerNanokompozitlerMikroelektronik CihazlarFilm Kaplamalar
Aktif Dış kullanım açık
Temas Açı Ölçer

Dataphysics / OCA 50Micro · Yüzey Karakterize

2.21 puan

Kullanım amacı

Yüzey gerilimi, ara yüzey gerilimi ve serbest yüzey enerjisi ölçümleri; ıslanabilirlik, sıvı emilimi, sıvıyı yüzeyde tutma, sıvı yayılması, yüzey temizliği, hakkında bilgi verir.

Yapılan analizler

TAÖ 01 Temas Açısı Ölçümü  TAÖ 02  Yüzey serbest enerjisi

Teknik özellikler

Temas Açısı ölçüm cihazı ile damla görüntülerini kaydederek zamana bağlı damla şeklini otomatik olarak analiz eder. 

Temas açısıKontakt açısıYüzey enerjiYüzey ıslaklıkSıvı damla yöntemiYüzey gerilmesiHidrofobik yüzeylerHidrofilik yüzeylerYüzey etkileşimleriEğilme temas açısı
Aktif Dış kullanım açık
HPLC

SHIMADZU · Viroloji Araştırma Laboratuvarı

2.01 puan

Kullanım amacı

Fenolik İçerik Analizi İçin

Yapılan analizler

Kromatografi

Teknik özellikler

220 VAC 600 WATT

Aktif Dış kullanım açık
Stereo Işık Mikroskobu

Olympus / Sz-40 · Mekanik Testler

1.72 puan

Kullanım amacı

Yüzey görüntüsü

Yapılan analizler

Yüzey görüntüsü alma

Teknik özellikler

KAFA:DürbünGöz mercekleri:10x/22Yakınlaştırma Aralığı:0,67x-4x Durmak:Düz Odaklanma

Aktif Dış kullanım açık
BET Sistemi

Micromeritics/Tristar II 3020 · Tanecik Karakterize

1.6 puan

Kullanım amacı

Numunelerin yüzey alanlarının tespiti

Yapılan analizler

BET 01     Tek Noktalı BET Analizi                                                BET 02     Çok Noktalı BET Analizi                                                BET 03     Çok Noktalı BET Analizi+Gözenek Boyutu            BET 04     Çok Noktalı BET Analizi+Mikro Gözenek Boyutu                                                                                        BET 05     Karbondioksit Absorbsiyon Ölçümü                      BET 06     Metan Absorbsiyon Ölçümü

Teknik özellikler

Maksimum Numune Sayısı : 3

Yüzey Alanı AnaliziBET TeorisiBETPorozitePürüzlülükAdsorpsiyonDesorpsiyonÇok Katmanlı AdsorpsiyonGaz AdsorpsiyonuPorozite AnaliziMikrogözeneklilikMezogözeneklilikMakrogözeneklilikSpesifik Yüzey AlanıIsoterm EğrileriLangmuir İzotermiP/P0 (Bağıl Basınç)Yüzey Alanı ve Gözeneklilik TayiniFiziksel AdsorpsiyonAzot AdsorpsiyonuToz ve Partikül AnaliziKatı Yüzey EtkileşimleriGaz Katı Etkileşimleri
Aktif Dış kullanım açık
Otoklav

Nüve/OT 4060 · MİKROBİYOLOJİ-BİYOKİMYA ARAŞTIRMA LABORATUVARI

1.55 puan

Kullanım amacı

Sterilizasyon işlemleri için

Yapılan analizler

Sterilizasyon işlemleri için

Teknik özellikler

Sıcaklık çalışma sınırları: 110 °C – 140 °C Sıcaklık hissedicisi: Fe – Const. Termostat ayar hassasiyeti: 1 °C Termostat çalışma hassasiyetİ: ± 1 °C Termostat okuma hassasiyeti: 1 °C Termostat çalışma sistemi: Oransal Kontrol Sıcaklık dağılımı: ± 2 °C Zaman ayarı: 99 dak. Zamanlama: Ayar sıcaklığına ulaşınca Emniyet sistemi: 2.8 Kg / cm2 presustat, 3 Kg / cm2 emniyet ventili Güç değerleri: 400 V , 50 Hz (üç fazlı sistemden besleme) Kurulu güç: 6000 W Kullanılır hacim: 75 dm3 

Aktif Dış kullanım kapalı
Jel Elektroforezi

BİO-RAD · Viroloji Araştırma Laboratuvarı

1.55 puan

Kullanım amacı

DNA Yürütme İçin

Yapılan analizler

DNA Yürütme İçin

Teknik özellikler

220 VAC 250 WATT

Aktif Dış kullanım açık
Evaporatör

IKA · Viroloji Araştırma Laboratuvarı

1.55 puan

Kullanım amacı

Uçurma İşlemleri İçin

Yapılan analizler

Uçurma İşlemleri İçin

Teknik özellikler

100 VAC 75 Watt

Aktif Dış kullanım açık
Temas açısı ölçüm cihazı

KSV CAM 200 Contact Angle Measurement · Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325)

1.48 puan

Kullanım amacı

Su temas açısı ölçümü

Yapılan analizler

Yüzeylerin su temas ölçümü yapılarak hidrofilikliğinin belirlenmesi

Teknik özellikler

4-180° temas açısı ölçüm aralığı, ±1° ölçüm hassasiyeti

Temas açısı ölçüm cihazlarıYüzey gerilimi analizörleriHidrofobisite ölçüm sistemleriIslanabilirlik test ekipmanlarıSıvı damla analiz yöntemleriYüzey enerjisi karakterizasyonuMalzeme yüzey analiz cihazlarıKontak açısı görüntüleme sistemleriNanotopografi ölçüm ekipmanlarıKohezyon-adhezyon analizörleri
Aktif Dış kullanım kapalı