"Malzeme yüzey analiz cihazları" arama sonuçları 10 sonuç
Analiz

Arama terimi "Malzeme yüzey analiz cihazları" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "Ultraviyole (UV) ve Görünür Bölge (VIS) Spektrometre" (Marka/Model: Perkin Elmer). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "UV-VIS aralığı için taramalı çift ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 8 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Spektroskopi Laboratuvarı, Yüzey Karakterize, Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325), Farmasötik Kimya, Mekanik Test Laboratuvarı, Lüminesans-ESR Laboratuvarı, Kromatografi, BİYOFİZİK LAB.. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.

Ultraviyole (UV) ve Görünür Bölge (VIS) Spektrometre En uygun

Perkin Elmer · Spektroskopi Laboratuvarı

3.2 puan

Kullanım amacı

UV-VIS aralığı için taramalı çift ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır.

Yapılan analizler

Belli bir dalga boyunda absorbans ölçümü ve spektrum eldesi, fotometrik analiz, kantitatif analiz, kinetik analiz çalışmalarında kullanılabilir.

Teknik özellikler

UV-VIS aralığı için taramalı çift ışın bulunmaktadır. Sistemde otomatik geçişli döteryum ve halojen lamba ışık kaynağı ve 800 - 190 nm dalga boyu aralığında çalışması için fotodiyot dedektörleri bulunmaktadır.

SpektrofotometreKimyasal AnalizElemental AnalizBiyokimya TestleriLaboratuvar Cihazları
Aktif Dış kullanım açık
STYLUS Profilometre

NanoMap/ LS · Yüzey Karakterize

2.77 puan

Kullanım amacı

İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır.

Yapılan analizler

PRM 01 Film kalınlığı 2D Ölçüm PRM 02 Haraitalama ve Yüzey Pürüzlülüğü (3D Ölçüm)

Teknik özellikler

2,5 µm hassasiyetindeki prob ile yüzey üzerinde tarama yapılarak 2D ve 3D topografik verilerin hızlı bir şekilde alındığı sistemlerdir. 500 µm - 150 mm tarama aralığına sahiptir. Kalın ve ince film yüzeyleri  ( pürüzlülük, dalgalanmalar, yüzey hataları) hakkında bilgi vermenin yanı sıra adım yüksekliği ve adım aralığını yüksek çözünürlükte ölçebilmektedir.

Yüzey ProfilometrisiYüzey pürüzlülüğüYüzey topografyasıYüzey şekil bozukluğuYüzey morfolojisi2D yüzey ölçümü3D yüzey ölçümüYüzey yüksekliğiNanopürüzlülükYüzey şekil analiziMikrometre çözünürlüğüRoughness (Pürüzlülük) parametreleriRzRaRq ölçümleriPolimerlerMetallerSeramiklerCam yüzeyleriYüzey kaplamalarıYüzey boyamaKompozit malzemelerYüzey kaplama filmleriNanomalzemelerMikroelektronik devrelerMikro ve nano yapılarİnce film kaplamalar
Aktif Dış kullanım açık
Temas Açı Ölçer

Dataphysics / OCA 50Micro · Yüzey Karakterize

2.7 puan

Kullanım amacı

Yüzey gerilimi, ara yüzey gerilimi ve serbest yüzey enerjisi ölçümleri; ıslanabilirlik, sıvı emilimi, sıvıyı yüzeyde tutma, sıvı yayılması, yüzey temizliği, hakkında bilgi verir.

Yapılan analizler

TAÖ 01 Temas Açısı Ölçümü  TAÖ 02  Yüzey serbest enerjisi

Teknik özellikler

Temas Açısı ölçüm cihazı ile damla görüntülerini kaydederek zamana bağlı damla şeklini otomatik olarak analiz eder. 

Temas açısıKontakt açısıYüzey enerjiYüzey ıslaklıkSıvı damla yöntemiYüzey gerilmesiHidrofobik yüzeylerHidrofilik yüzeylerYüzey etkileşimleriEğilme temas açısı
Aktif Dış kullanım açık
Temas açısı ölçüm cihazı

KSV CAM 200 Contact Angle Measurement · Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325)

2.65 puan

Kullanım amacı

Su temas açısı ölçümü

Yapılan analizler

Yüzeylerin su temas ölçümü yapılarak hidrofilikliğinin belirlenmesi

Teknik özellikler

4-180° temas açısı ölçüm aralığı, ±1° ölçüm hassasiyeti

Temas açısı ölçüm cihazlarıYüzey gerilimi analizörleriHidrofobisite ölçüm sistemleriIslanabilirlik test ekipmanlarıSıvı damla analiz yöntemleriYüzey enerjisi karakterizasyonuMalzeme yüzey analiz cihazlarıKontak açısı görüntüleme sistemleriNanotopografi ölçüm ekipmanlarıKohezyon-adhezyon analizörleri
Aktif Dış kullanım kapalı
UV-VIS SPEKTROFOTOMETRE

AGİLENT CARY60 · Farmasötik Kimya

2.63 puan

Kullanım amacı

Spektrofotometre Shimadzu UV-1800 Ultraviyole ve görünür dalga boyu aralığındaki ışığı absorbe etme özelliklerine göre maddeleri analiz etmek 190-1100 nm arası dalga boyuna sahip bileşiklerin kalitatif ve kantitatif analizleri

Yapılan analizler

Spektrofotometre Shimadzu UV-1800 Ultraviyole ve görünür dalga boyu aralığındaki ışığı absorbe etme özelliklerine göre maddeleri analiz etmek 190-1100 nm arası dalga boyuna sahip bileşiklerin kalitatif ve kantitatif analizleri

Teknik özellikler

Spektrofotometre Shimadzu UV-1800 Ultraviyole ve görünür dalga boyu aralığındaki ışığı absorbe etme özelliklerine göre maddeleri analiz etmek 190-1100 nm arası dalga boyuna sahip bileşiklerin kalitatif ve kantitatif analizleri

UV-Vis spektroskopi cihazlarıAbsorbans ölçüm sistemleriKonsantrasyon analiz ekipmanlarıKimyasal karakterizasyon cihazlarıLaboratuvar spektrometreleriIşık Soğurumu ÖlçümüKimyasal AnalizBileşik Tayini
Aktif Dış kullanım kapalı
Atomik Kuvvet Mikroskobu

NT-MDT / Ntegra Solaris · Yüzey Karakterize

2.32 puan

Kullanım amacı

Sivriltilmiş bir iğne ucu kullanılarak, yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan bir tekniktir. Yüzeyleri atomik veya moleküler düzeyde inceleyerek nanometre ölçeğindeki detayları göstermek, materyallerin mekanik özelliklerini karakterize etmek ve biyolojik örnekler üzerinde çalışmak için kullanılmaktadır. 

Yapılan analizler

AFM 01 Atomik Kuvvet Mikroskop  AFM 02 Kelvin Prop Mikroskop (KFM) AFM 03 Manyetik Kuvvet Mikroskop (MFM) AFM 04 Elektrostatik Kuvvet Mikroskop (EFM) AFM 05 Sıvı Hücrede Ölçüm AFM 06 Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM)  AFM 07 Taramalı Tünelleme Mikroskop (STM)

Teknik özellikler

*Temaslı (contact) ve vurmalı (semi-contact) olmak üzere iki ana teknik kullanılmaktadır.  *Tarama Alanı / Dikey İnceleme Alanı      100µm x 100µm / 5.0µm      10µm x 10µm / 2.5µm      1µm x 1µm / 1.0 µm *Çalışma Modları; Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Probe Mikroskobu (KPFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Force Modulation Mikroskobu (FMM), Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) (440 nm), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), biyolojik örnekler için sıvı içinde tarama, Sıcaklık (-25°C - 250°C) uygulayarak  görüntüleme ve analiz imkanları sunmaktadır.

Yüzey topografyasıRoughness (Pürüzlülük) parametreleriYüzey analiziNanoyapılarMekanik özelliklerTopografik görüntülemeYüzey ProfilometrisiYüzey pürüzlülüğüYüzey topografyasıYüzey şekil bozukluğuYüzey morfolojisi2D yüzey ölçümü3D yüzey ölçümüYüzey özellikleriYüzey kuvvetiYüzey pürüzlülüğüKuvvet spektroskopisiYüzey etkileşimleriMikroskopik ölçümlerYüzey morfolojisiPolimerlerNanoparçacıklarNanotellerGrafenKarbon NanotüplerMetallerSeramiklerYüzey KaplamalarıBiyolojik NumunelerKompozit MalzemelerNanokompozitlerMikroelektronik CihazlarFilm Kaplamalar
Aktif Dış kullanım açık
Otomatik Dijital Rockwell & Brinell Sertlik Ölçme Cihazı

DIGIROCK-RB-M · Mekanik Test Laboratuvarı

2.22 puan

Kullanım amacı

Otomatik dijital Rockwell ve Brinell sertlik ölçme cihazı, malzemelerin sertlik değerlerini hassas ve hızlı bir şekilde ölçmek için kullanılır. Rockwell ve Brinell test yöntemleriyle farklı malzeme türlerinde yüzey sertliği ve mekanik dayanım özelliklerini belirler. Özellikle metalurji, otomotiv ve inşaat sektörlerinde kalite kontrol ve malzeme seçimi süreçlerinde yaygın olarak tercih edilir.

Yapılan analizler

Otomatik dijital Rockwell ve Brinell sertlik ölçme cihazı, malzemelerin yüzey sertliğini farklı yükleme ve indenter tipleriyle analiz ederek mekanik dayanımını belirler. Rockwell yöntemiyle daha ince malzemelerde yüzey sertliğini ölçerken, Brinell yöntemiyle kalın ve homojen malzemelerin derinlemesine sertlik analizini yapabilir. Ayrıca, otomatik dijital özellikleri sayesinde test sonuçlarını hızlı ve doğru bir şekilde kaydederek farklı malzeme türleri arasında karşılaştırmalı analizlere olanak tanır.

Teknik özellikler

Cihaz ile 62.5,150 ve 187,5 kgf gibi farklı yükler altında numunelerin Rockwell, Makro Vickers ve Brinell sertlik değerleri belirlenebilmektedir.

Sertlik Ölçüm CihazıRockwell TestiMetal Sertlik AnaliziMekanik Dayanım TestiMalzeme KarakterizasyonuYüzey Sertliği Ölçümü
Aktif Dış kullanım açık
Risø TL/OSL okuyucu

Model TL/OSL-DA-20 · Lüminesans-ESR Laboratuvarı

2.16 puan

Kullanım amacı

Hem termolüminesans (TL) hem de optiksel uyarılmayla lüminesans (OSL) ölçümleri yapılabilmektedir.

Yapılan analizler

Malzeme karakterizasyonu  Dozimetri belirleme ve doz ölçümü (doğal ve yapay malzemelerde radyasyon dozlarının belirlenmesi) Lüminesans malzeme tayini

Teknik özellikler

Cihazın TL/OSL okuyucusu, 200 ile 400 nm arasında maksimum algılama verimliliğine sahip ‘Blue/UV’ duyarlı elektron tüpü PMT ile donatılmış ve hem quartz hem de feldispattan (feldspar) lüminesans tespiti için uygundur.  Cihaz 48 özgün numuneye kadar otomatik olarak okuyabilecek bir sisteme sahiptir  Cihazın ısıtma sistemi 0.1 °C ile 10 °C/s sabit ısıtma oranlarında 700 °C ye kadar numuneleri ısıtabilme özelliğine sahiptir. Örnekler isteğe bağlı yazılım kontrollü ışınlama kaynakları kullanılarak yerinde ışınlanabilir: Işınlama kaynakları: Sr-90 beta source (1.48 GBq) ve Sr-90 beta source (37 MBq)

Termolüminesans tarihlendirmeOptik uyarmalı lüminesansLüminesans okuyucu sistemleriArkeolojik tarihlendirme cihazlarıJeokronoloji analiz ekipmanlarıRadyasyon dozimetri sistemleriKum tanesi tarihlendirmeSediment yaş tayiniPaleontolojik analiz cihazlarıKuvars ve feldispat analizörleri
Aktif Dış kullanım kapalı
Gaz Kromatografisi (GC)

SHIMADZU/ GC-2010 · Kromatografi

2.1 puan

Kullanım amacı

Gaz kromatografi, bir karışımda gaz halinde bulunan veya kolayca gaz haline geçebilen bileşenlerin birbirinden ayrıştırılması ve bu bileşenlerin kalitatif veya kantitatif olarak tayin edilmesinde kullanılır.

Yapılan analizler

GC 30 Kalitatif Analiz      GC 31 Kantitatif Analiz GC 32 Kantitatif Analiz İlave Bileşen Başına GC 33 Yöntem Geliştirme GC 34 Hidrojen Gazı Tayini

Teknik özellikler

—Shimadzu- GC-2010 Plus, TCD (Termal İletkenlik Dedektörü)  dedektörüne sahiptir. —Cihazda taşıyıcı gaz olarak yüksek saflıkta Argon (Ar) kullanılmaktadır.                                                                                     —Cihazda enjeksiyon işlemi manuel olarak yapılmaktadır.  —Kolon Fırını Sıcaklığı: ( Oda sıcaklığı + 4°C ) ~ 450°C  —Taşıyıcı Gaz Kontrolü: Elektronik akış kontrol ünitesi ile dijital ayarlama  —AFC (İleri Akış Kontrolü) —Numune Enjektörü: Ayırma/Ayırmama (Split/Splitless)  —Direkt, Doğrudan Kolona enjeksiyon  —Programlanabilir Sıcaklıklı Buharlaştırma Enjektörü (OCI/PTV) —İyonizasyon Voltajı: 20-200 Ev —Isıtma Hızı 1- 120 ºC/dakika. 

Hidrojen Gazı TayiniKalitatif AnalizKantitatif Analiz
Aktif Dış kullanım açık
METALOGRAF

- · BİYOFİZİK LAB.

2.05 puan

Kullanım amacı

Metalurji araştırmaları, malzeme bilimi, metal yüzey incelemeleri.

Yapılan analizler

Metal yüzey analizleri, mikro yapı analizi

Teknik özellikler

Metal yüzeylerin mikroskobik analizini yapan cihaz. Metalin mikro yapısını analiz eder.

Aktif Dış kullanım kapalı