Arama terimi "Yüzey enerji" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "Temas Açı Ölçer" (Marka/Model: Dataphysics / OCA 50Micro). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: kullanim amaci alanında yüksek benzerlik, anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "Yüzey gerilimi, ara yüzey gerilimi ve serbest yüzey enerjisi ölçümleri; ıslanabilirlik, sıvı emilimi, sıvıyı yüzeyde tutma, sıvı yayılması, yüzey temizliği, hakkında bilgi verir." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 7 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Yüzey Karakterize, Elektrik Makineleri Laboratuvarı, Mekanik Testler, Tanecik Karakterize, BİYOFİZİK LAB., Yenilenebilir Enerji Laboratuvarı, 332 no’lu Biyokimya Araştırma Laboratuvarı. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
Yüzey gerilimi, ara yüzey gerilimi ve serbest yüzey enerjisi ölçümleri; ıslanabilirlik, sıvı emilimi, sıvıyı yüzeyde tutma, sıvı yayılması, yüzey temizliği, hakkında bilgi verir.
Yapılan Analizler:
TAÖ 01 Temas Açısı Ölçümü TAÖ 02 Yüzey serbest enerjisi
Teknik Özellikler:
Temas Açısı ölçüm cihazı ile damla görüntülerini kaydederek zamana bağlı damla şeklini otomatik olarak analiz eder.
Kullanım Amacı:
İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır.
Yapılan Analizler:
PRM 01 Film kalınlığı 2D Ölçüm PRM 02 Haraitalama ve Yüzey Pürüzlülüğü (3D Ölçüm)
Teknik Özellikler:
2,5 µm hassasiyetindeki prob ile yüzey üzerinde tarama yapılarak 2D ve 3D topografik verilerin hızlı bir şekilde alındığı sistemlerdir. 500 µm - 150 mm tarama aralığına sahiptir. Kalın ve ince film yüzeyleri ( pürüzlülük, dalgalanmalar, yüzey hataları) hakkında bilgi vermenin yanı sıra adım yüksekliği ve adım aralığını yüksek çözünürlükte ölçebilmektedir.
Kullanım Amacı:
Sivriltilmiş bir iğne ucu kullanılarak, yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan bir tekniktir. Yüzeyleri atomik veya moleküler düzeyde inceleyerek nanometre ölçeğindeki detayları göstermek, materyallerin mekanik özelliklerini karakterize etmek ve biyolojik örnekler üzerinde çalışmak için kullanılmaktadır.
Yapılan Analizler:
AFM 01 Atomik Kuvvet Mikroskop AFM 02 Kelvin Prop Mikroskop (KFM) AFM 03 Manyetik Kuvvet Mikroskop (MFM) AFM 04 Elektrostatik Kuvvet Mikroskop (EFM) AFM 05 Sıvı Hücrede Ölçüm AFM 06 Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) AFM 07 Taramalı Tünelleme Mikroskop (STM)
Teknik Özellikler:
*Temaslı (contact) ve vurmalı (semi-contact) olmak üzere iki ana teknik kullanılmaktadır. *Tarama Alanı / Dikey İnceleme Alanı 100µm x 100µm / 5.0µm 10µm x 10µm / 2.5µm 1µm x 1µm / 1.0 µm *Çalışma Modları; Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Probe Mikroskobu (KPFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Force Modulation Mikroskobu (FMM), Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) (440 nm), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), biyolojik örnekler için sıvı içinde tarama, Sıcaklık (-25°C - 250°C) uygulayarak görüntüleme ve analiz imkanları sunmaktadır.
Kullanım Amacı:
Elektrik şebekesindeki enerji tüketimini ve kalite parametrelerini ölçmek için kullanılır. Gerilim, akım, güç faktörü, aktif ve reaktif güç gibi değerleri analiz ederek şebekenin performansını değerlendirir. Özellikle enerji yönetimi, sistem optimizasyonu ve arıza tespiti süreçlerinde yaygın olarak kullanılır.
Yapılan Analizler:
Şebekedeki gerilim ve akım değerlerini ölçerek aktif, reaktif ve görünür güç analizleri yapabilir. Güç faktörü ölçümleriyle enerji verimliliğini değerlendirebilir ve harmonik analiz yoluyla şebeke kalitesini etkileyen bozulmaları tespit edebilir. Ayrıca, enerji tüketim trendlerini izleyerek enerji yönetim sistemlerine veri sağlayabilir ve sistem performansını optimize etmek için detaylı analizler gerçekleştirebilir.
Teknik Özellikler:
A - V - W - VAR - VA - COSφ - Hz - kWh - kVARh - ΣA - ΣW - ΣVAR - ΣVA - LN - LL
Kullanım Amacı:
Yüzey görüntüsü
Yapılan Analizler:
Yüzey görüntüsü alma
Teknik Özellikler:
KAFA:DürbünGöz mercekleri:10x/22Yakınlaştırma Aralığı:0,67x-4x Durmak:Düz Odaklanma
Kullanım Amacı:
Numunelerin yüzey alanlarının tespiti
Yapılan Analizler:
BET 01 Tek Noktalı BET Analizi BET 02 Çok Noktalı BET Analizi BET 03 Çok Noktalı BET Analizi+Gözenek Boyutu BET 04 Çok Noktalı BET Analizi+Mikro Gözenek Boyutu BET 05 Karbondioksit Absorbsiyon Ölçümü BET 06 Metan Absorbsiyon Ölçümü
Teknik Özellikler:
Maksimum Numune Sayısı : 3
Kullanım Amacı:
Metalurji araştırmaları, malzeme bilimi, metal yüzey incelemeleri.
Yapılan Analizler:
Metal yüzey analizleri, mikro yapı analizi
Teknik Özellikler:
Metal yüzeylerin mikroskobik analizini yapan cihaz. Metalin mikro yapısını analiz eder.
Kullanım Amacı:
Çeşitli yenilenebiir ve elektrik devresi deneyleri
Yapılan Analizler:
Çeşitli yenilenebiir ve elektrik devresi deneyleri
Teknik Özellikler:
Kullanım Amacı:
Elektronik ve biyolojik cihazlar için sürekli enerji sağlamak, güç yönetimi için kullanılır
Yapılan Analizler:
Güç sağlama, enerji akışının izlenmesi
Teknik Özellikler:
Güç çıkışı: 110V – 240V, Akım: 10 A, Dijital voltaj kontrolü
Kullanım Amacı:
Döndürerek kaplama
Yapılan Analizler:
Yüzey kaplamada
Teknik Özellikler:
1-60 saniye 100-500 rpm hızlarda dönerek, 5 bar vakumda kaplama