Arama terimi "Yüzey Sertliği Ölçümü" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "STYLUS Profilometre" (Marka/Model: NanoMap/ LS). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır." amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 7 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Yüzey Karakterize, Nükleer Fizik Araştırma Laboratuvarı, Genel Uygulama Laboratuvarı, Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325), Mekanik Test Laboratuvarı, Hidrobiyoloji Araştırma Laboratuvarı, Mekanik Testler. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır.
Yapılan Analizler:
PRM 01 Film kalınlığı 2D Ölçüm PRM 02 Haraitalama ve Yüzey Pürüzlülüğü (3D Ölçüm)
Teknik Özellikler:
2,5 µm hassasiyetindeki prob ile yüzey üzerinde tarama yapılarak 2D ve 3D topografik verilerin hızlı bir şekilde alındığı sistemlerdir. 500 µm - 150 mm tarama aralığına sahiptir. Kalın ve ince film yüzeyleri ( pürüzlülük, dalgalanmalar, yüzey hataları) hakkında bilgi vermenin yanı sıra adım yüksekliği ve adım aralığını yüksek çözünürlükte ölçebilmektedir.
Kullanım Amacı:
Sivriltilmiş bir iğne ucu kullanılarak, yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan bir tekniktir. Yüzeyleri atomik veya moleküler düzeyde inceleyerek nanometre ölçeğindeki detayları göstermek, materyallerin mekanik özelliklerini karakterize etmek ve biyolojik örnekler üzerinde çalışmak için kullanılmaktadır.
Yapılan Analizler:
AFM 01 Atomik Kuvvet Mikroskop AFM 02 Kelvin Prop Mikroskop (KFM) AFM 03 Manyetik Kuvvet Mikroskop (MFM) AFM 04 Elektrostatik Kuvvet Mikroskop (EFM) AFM 05 Sıvı Hücrede Ölçüm AFM 06 Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) AFM 07 Taramalı Tünelleme Mikroskop (STM)
Teknik Özellikler:
*Temaslı (contact) ve vurmalı (semi-contact) olmak üzere iki ana teknik kullanılmaktadır. *Tarama Alanı / Dikey İnceleme Alanı 100µm x 100µm / 5.0µm 10µm x 10µm / 2.5µm 1µm x 1µm / 1.0 µm *Çalışma Modları; Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Probe Mikroskobu (KPFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Force Modulation Mikroskobu (FMM), Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) (440 nm), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), biyolojik örnekler için sıvı içinde tarama, Sıcaklık (-25°C - 250°C) uygulayarak görüntüleme ve analiz imkanları sunmaktadır.
Kullanım Amacı:
Radyoaktivite ölçümü
Yapılan Analizler:
Çevresel radyoaktivite ölçümleri
Teknik Özellikler:
Geiger-Müller sayaçlı elektronik el detektörü
Kullanım Amacı:
Yüzey gerilimi, ara yüzey gerilimi ve serbest yüzey enerjisi ölçümleri; ıslanabilirlik, sıvı emilimi, sıvıyı yüzeyde tutma, sıvı yayılması, yüzey temizliği, hakkında bilgi verir.
Yapılan Analizler:
TAÖ 01 Temas Açısı Ölçümü TAÖ 02 Yüzey serbest enerjisi
Teknik Özellikler:
Temas Açısı ölçüm cihazı ile damla görüntülerini kaydederek zamana bağlı damla şeklini otomatik olarak analiz eder.
Kullanım Amacı:
pH ölçümü
Yapılan Analizler:
pH ölçümü
Teknik Özellikler:
Ölçüm aralığı: 0-1999 µS/cm, Sıcaklık ölçümü ile, Taşınabilir, Dijital ekran
Kullanım Amacı:
Su temas açısı ölçümü
Yapılan Analizler:
Yüzeylerin su temas ölçümü yapılarak hidrofilikliğinin belirlenmesi
Teknik Özellikler:
4-180° temas açısı ölçüm aralığı, ±1° ölçüm hassasiyeti
Kullanım Amacı:
Otomatik dijital Rockwell ve Brinell sertlik ölçme cihazı, malzemelerin sertlik değerlerini hassas ve hızlı bir şekilde ölçmek için kullanılır. Rockwell ve Brinell test yöntemleriyle farklı malzeme türlerinde yüzey sertliği ve mekanik dayanım özelliklerini belirler. Özellikle metalurji, otomotiv ve inşaat sektörlerinde kalite kontrol ve malzeme seçimi süreçlerinde yaygın olarak tercih edilir.
Yapılan Analizler:
Otomatik dijital Rockwell ve Brinell sertlik ölçme cihazı, malzemelerin yüzey sertliğini farklı yükleme ve indenter tipleriyle analiz ederek mekanik dayanımını belirler. Rockwell yöntemiyle daha ince malzemelerde yüzey sertliğini ölçerken, Brinell yöntemiyle kalın ve homojen malzemelerin derinlemesine sertlik analizini yapabilir. Ayrıca, otomatik dijital özellikleri sayesinde test sonuçlarını hızlı ve doğru bir şekilde kaydederek farklı malzeme türleri arasında karşılaştırmalı analizlere olanak tanır.
Teknik Özellikler:
Cihaz ile 62.5,150 ve 187,5 kgf gibi farklı yükler altında numunelerin Rockwell, Makro Vickers ve Brinell sertlik değerleri belirlenebilmektedir.
Kullanım Amacı:
Bulanıklık ölçümü
Yapılan Analizler:
Bulanıklık ölçümü
Teknik Özellikler:
En düşük 0,001 Abs aralık, Dahili (termal, 58 mm 28 sütuna kadar), Okuma değerinin ± %1'i veya ± 0,01 NTU, hangisi büyükse
Kullanım Amacı:
iletkenlik ölçümü
Yapılan Analizler:
iletkenlik ölçümü
Teknik Özellikler:
Ölçüm aralığı: 0-14 pH, Taşınabilir, Otomatik sıcaklık kompanzasyonu
Kullanım Amacı:
Yüzey görüntüsü
Yapılan Analizler:
Yüzey görüntüsü alma
Teknik Özellikler:
KAFA:DürbünGöz mercekleri:10x/22Yakınlaştırma Aralığı:0,67x-4x Durmak:Düz Odaklanma