"X-ışını difraksiyonu (XRD)" için Arama Sonuçları
2 sonuç
Analiz Sonucu

Arama terimi "X-ışını difraksiyonu (XRD)" için toplam 2 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "X-Işını Difraktometresi (XRD)" (Marka/Model: BRUKER / D8 ADVANCE). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: yapilan analizler alanında yüksek benzerlik, anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "*Kristal Yapısının Belirlenmesi *Atom Pozisyonlarının Belirlenmesi  *Kristal Yapının Değişimlerinin İzlenmesi  *Kimyasal Bağların Analizi             " amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 2 farklı kategoriden cihazları içeriyor: X-Işınları Analizi, Görüntüleme. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.

X-Işını Difraktometresi (XRD) En Uygun
BRUKER / D8 ADVANCE | X-Işınları Analizi
4.8 puan

Kullanım Amacı:

*Kristal Yapısının Belirlenmesi *Atom Pozisyonlarının Belirlenmesi  *Kristal Yapının Değişimlerinin İzlenmesi  *Kimyasal Bağların Analizi             

Yapılan Analizler:

XRD 01 Kırınım Deseni Çekimi  XRD 02 Nitel Analiz XRD 03 Kırınım Deseni Analizi XRD 04 Reflektivite Analizi XRD 05 Kantitatif Analiz XRD 06 Yarı Kantitatif Analiz (%)

Teknik Özellikler:

Jeneratör ve dedektör: Bruker D8 advance (Lynxeye dedector) Tüp: Cu (40 Kv – 40 mA)  Dalga boyu : Cukα1=1.54059  Å    

Anahtar Kelimeler: X-ışını difraksiyonu (XRD)Kristal yapısıX-ışını spektroskopisiKristal kafesiToz XRD (Powder XRD)Tek kristal XRDFaz analiziToz Kırınım DeseniKantitatif analizKalitatif analizTekstür AnaliziMinerolojik AnalizXRD patern analiziFaz tayiniTek kristal analiziGerinim ve stres analizi
(Geçirimli Elektron Mikroskobu) (TEM)
JEOL / Jem 2100 | Görüntüleme
0.5 puan

Kullanım Amacı:

JEM-2100, çok amaçlı, 200 kV analitik geçirimli elektron mikroskobudur. Bu cihaz ile malzemelerin iç yapısını atomik ölçekte incelemek, kristal yapıları, kusurları, taneleri ve arayüzleri analiz etmek, nanomalzemelerin morfolojisini ve yapısını karakterize etmek, malzemelerin kimyasal bileşimini ve elementel dağılımını belirlemek, hücrelerin, virüslerin, bakterilerin ve diğer biyolojik malzemelerin yapısını incelemek mümkündür. 

Yapılan Analizler:

TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi

Teknik Özellikler:

200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)  

Anahtar Kelimeler: TEMNanogörüntülemeKristal Yapı AnaliziMikroyapı AnaliziFaz AnaliziAtomik Düzeyde GörüntülemeLattice Fringe AnaliziKristal Yönelimi ve Yapısal AnalizDislokasyon ve Kusur AnaliziNano Parçacık Morfolojisi ve Boyut DağılımıAmorf ve Kristal Yapı AyrımıSeçili Bölge Elektron Difraksiyonu (SAED)Elementel Analiz (EDS/EDX ile)tem