"Pürüzlülük" için Arama Sonuçları
3 sonuç
Analiz Sonucu

Arama terimi "Pürüzlülük" için toplam 3 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "Pürüzlülük azaltıcı" (Marka/Model: BrightWAY). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: cihaz adi alanında yüksek benzerlik, kullanim amaci alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "Yüzey Pürüzlülük azaltma işlemi" amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 3 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Mekanik Testler, Yüzey Karakterize, Tanecik Karakterize. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.

Pürüzlülük azaltıcı En Uygun
BrightWAY | Mekanik Testler
4.33 puan

Kullanım Amacı:

Yüzey Pürüzlülük azaltma işlemi

Yapılan Analizler:

Teknik Özellikler:

Anahtar Kelimeler:
STYLUS Profilometre
NanoMap/ LS | Yüzey Karakterize
0.61 puan

Kullanım Amacı:

İnce filmlerin kalınlık ölçümleri, Metal yüzeyler, photoresist ve transparan film kalınlıkları, yarı iletken sistemler (solar cell, leds), MEMs uygulamaları, mikrolens, işlenmiş yüzeylerde pürüzsüzlük değerlendirmesi amacıyla kullanılmaktadır.

Yapılan Analizler:

PRM 01 Film kalınlığı 2D Ölçüm PRM 02 Haraitalama ve Yüzey Pürüzlülüğü (3D Ölçüm)

Teknik Özellikler:

2,5 µm hassasiyetindeki prob ile yüzey üzerinde tarama yapılarak 2D ve 3D topografik verilerin hızlı bir şekilde alındığı sistemlerdir. 500 µm - 150 mm tarama aralığına sahiptir. Kalın ve ince film yüzeyleri  ( pürüzlülük, dalgalanmalar, yüzey hataları) hakkında bilgi vermenin yanı sıra adım yüksekliği ve adım aralığını yüksek çözünürlükte ölçebilmektedir.

Anahtar Kelimeler: Yüzey ProfilometrisiYüzey pürüzlülüğüYüzey topografyasıYüzey şekil bozukluğuYüzey morfolojisi2D yüzey ölçümü3D yüzey ölçümüYüzey yüksekliğiNanopürüzlülükYüzey şekil analiziMikrometre çözünürlüğüRoughness (Pürüzlülük) parametreleriRzRaRq ölçümleriPolimerlerMetallerSeramiklerCam yüzeyleriYüzey kaplamalarıYüzey boyamaKompozit malzemelerYüzey kaplama filmleriNanomalzemelerMikroelektronik devrelerMikro ve nano yapılarİnce film kaplamalar
BET Sistemi
Micromeritics/Tristar II 3020 | Tanecik Karakterize
0.52 puan

Kullanım Amacı:

Numunelerin yüzey alanlarının tespiti

Yapılan Analizler:

BET 01     Tek Noktalı BET Analizi                                                BET 02     Çok Noktalı BET Analizi                                                BET 03     Çok Noktalı BET Analizi+Gözenek Boyutu            BET 04     Çok Noktalı BET Analizi+Mikro Gözenek Boyutu                                                                                        BET 05     Karbondioksit Absorbsiyon Ölçümü                      BET 06     Metan Absorbsiyon Ölçümü

Teknik Özellikler:

Maksimum Numune Sayısı : 3

Anahtar Kelimeler: Yüzey Alanı AnaliziBET TeorisiBETPorozitePürüzlülükAdsorpsiyonDesorpsiyonÇok Katmanlı AdsorpsiyonGaz AdsorpsiyonuPorozite AnaliziMikrogözeneklilikMezogözeneklilikMakrogözeneklilikSpesifik Yüzey AlanıIsoterm EğrileriLangmuir İzotermiP/P0 (Bağıl Basınç)Yüzey Alanı ve Gözeneklilik TayiniFiziksel AdsorpsiyonAzot AdsorpsiyonuToz ve Partikül AnaliziKatı Yüzey EtkileşimleriGaz Katı Etkileşimleri