"Nanogörüntüleme" için Arama Sonuçları
1 sonuç
Analiz Sonucu

Arama terimi "Nanogörüntüleme" için toplam 1 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "(Geçirimli Elektron Mikroskobu) (TEM)" (Marka/Model: JEOL / Jem 2100). Bu cihaz temel olarak "JEM-2100, çok amaçlı, 200 kV analitik geçirimli elektron mikroskobudur. Bu cihaz ile malzemelerin iç yapısını atomik ölçekte incelemek, kristal yapıları, kusurları, taneleri ve arayüzleri analiz etmek, nanomalzemelerin morfolojisini ve yapısını karakterize etmek, malzemelerin kimyasal bileşimini ve elementel dağılımını belirlemek, hücrelerin, virüslerin, bakterilerin ve diğer biyolojik malzemelerin yapısını incelemek mümkündür. " amacıyla kullanılıyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.

(Geçirimli Elektron Mikroskobu) (TEM) En Uygun
JEOL / Jem 2100 | Görüntüleme
0.53 puan

Kullanım Amacı:

JEM-2100, çok amaçlı, 200 kV analitik geçirimli elektron mikroskobudur. Bu cihaz ile malzemelerin iç yapısını atomik ölçekte incelemek, kristal yapıları, kusurları, taneleri ve arayüzleri analiz etmek, nanomalzemelerin morfolojisini ve yapısını karakterize etmek, malzemelerin kimyasal bileşimini ve elementel dağılımını belirlemek, hücrelerin, virüslerin, bakterilerin ve diğer biyolojik malzemelerin yapısını incelemek mümkündür. 

Yapılan Analizler:

TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi

Teknik Özellikler:

200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)  

Anahtar Kelimeler: TEMNanogörüntülemeKristal Yapı AnaliziMikroyapı AnaliziFaz AnaliziAtomik Düzeyde GörüntülemeLattice Fringe AnaliziKristal Yönelimi ve Yapısal AnalizDislokasyon ve Kusur AnaliziNano Parçacık Morfolojisi ve Boyut DağılımıAmorf ve Kristal Yapı AyrımıSeçili Bölge Elektron Difraksiyonu (SAED)Elementel Analiz (EDS/EDX ile)tem