"Kuvvet spektroskopisi" için Arama Sonuçları
8 sonuç
Analiz Sonucu

Arama terimi "Kuvvet spektroskopisi" için toplam 8 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "KUVVET ÖLÇÜM ALETİ KUVVET ÇEVİRİCİ" (Marka/Model: -). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: cihaz adi alanında yüksek benzerlik, yapilan analizler alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "Kas gücü ölçümü, biyomekanik testler, materyal dayanıklılık testleri" amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 7 farklı kategoriden cihazları içeriyor: BİYOFİZİK LAB., Yüzey Karakterize, Mekanik Test Laboratuvarı, Lazer Sistemleri, Temiz Oda, Spektroskopi, Uçak Bakım Hangarı. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.

KUVVET ÖLÇÜM ALETİ KUVVET ÇEVİRİCİ En Uygun
- | BİYOFİZİK LAB.
3.99 puan

Kullanım Amacı:

Kas gücü ölçümü, biyomekanik testler, materyal dayanıklılık testleri

Yapılan Analizler:

Kuvvet ölçümü, kuvvet dönüştürme, yüksek hassasiyetli kuvvet kayıpları ölçümü

Teknik Özellikler:

Kuvvet ölçüm kapasitesi: 0.1 N – 500 N, Hassasiyet: ± 0.5%, Dijital LCD ekran, USB çıkışı, 110V AC 50Hz güç kaynağı

Anahtar Kelimeler:
Atomik Kuvvet Mikroskobu
NT-MDT / Ntegra Solaris | Yüzey Karakterize
2.77 puan

Kullanım Amacı:

Sivriltilmiş bir iğne ucu kullanılarak, yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan bir tekniktir. Yüzeyleri atomik veya moleküler düzeyde inceleyerek nanometre ölçeğindeki detayları göstermek, materyallerin mekanik özelliklerini karakterize etmek ve biyolojik örnekler üzerinde çalışmak için kullanılmaktadır. 

Yapılan Analizler:

AFM 01 Atomik Kuvvet Mikroskop  AFM 02 Kelvin Prop Mikroskop (KFM) AFM 03 Manyetik Kuvvet Mikroskop (MFM) AFM 04 Elektrostatik Kuvvet Mikroskop (EFM) AFM 05 Sıvı Hücrede Ölçüm AFM 06 Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM)  AFM 07 Taramalı Tünelleme Mikroskop (STM)

Teknik Özellikler:

*Temaslı (contact) ve vurmalı (semi-contact) olmak üzere iki ana teknik kullanılmaktadır.  *Tarama Alanı / Dikey İnceleme Alanı      100µm x 100µm / 5.0µm      10µm x 10µm / 2.5µm      1µm x 1µm / 1.0 µm *Çalışma Modları; Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Probe Mikroskobu (KPFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Force Modulation Mikroskobu (FMM), Yakın Alan Taramalı Optik Mikroskop (SNOM) (440 nm), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), biyolojik örnekler için sıvı içinde tarama, Sıcaklık (-25°C - 250°C) uygulayarak  görüntüleme ve analiz imkanları sunmaktadır.

Anahtar Kelimeler: Yüzey topografyasıRoughness (Pürüzlülük) parametreleriYüzey analiziNanoyapılarMekanik özelliklerTopografik görüntülemeYüzey ProfilometrisiYüzey pürüzlülüğüYüzey topografyasıYüzey şekil bozukluğuYüzey morfolojisi2D yüzey ölçümü3D yüzey ölçümüYüzey özellikleriYüzey kuvvetiYüzey pürüzlülüğüKuvvet spektroskopisiYüzey etkileşimleriMikroskopik ölçümlerYüzey morfolojisiPolimerlerNanoparçacıklarNanotellerGrafenKarbon NanotüplerMetallerSeramiklerYüzey KaplamalarıBiyolojik NumunelerKompozit MalzemelerNanokompozitlerMikroelektronik CihazlarFilm Kaplamalar
Çekme-Basma Test cihazı
SHIMADZU AGS-X 100kN serisi | Mekanik Test Laboratuvarı
0.83 puan

Kullanım Amacı:

Malzemelerin mekanik özelliklerini ölçmek için çekme ve basma yükleri altında davranışlarını test etmek amacıyla kullanılır. Malzemenin kopma dayanımı, elastiklik modülü, akma noktası ve uzama oranı gibi özelliklerini belirler. Genellikle mühendislik, inşaat ve malzeme araştırmalarında kalite kontrol ve tasarım doğrulama süreçlerinde tercih edilir.

Yapılan Analizler:

Analiz sonucunda numunelerin; akma dayanımı, çekme dayanımı, kopma dayanımı, rezilyans, tokluk, elastisite modülü, yüzde uzama, basma dayanımı ve eğme dayanımı verileri elde edilebilmektedir.

Teknik Özellikler:

Cihaz ile max. 100 kN' a kadar oda sıcaklığında Çekme-Basma ve Eğme deneyleri yapılabilmektedir.

Anahtar Kelimeler: Malzeme Dayanım TestiMekanik Gerilme AnaliziÇekme TestiBasma TestiKuvvet Ölçümü
Üniversal Çekme-Basma Test cihazı
KT-AS/DN.2060 | Mekanik Test Laboratuvarı
0.83 puan

Kullanım Amacı:

Üniversal çekme-basınç test cihazı, malzemelerin çekme, basma ve eğilme gibi mekanik yükler altındaki davranışlarını ölçmek için kullanılır. Malzemenin mukavemet, elastiklik modülü, uzama, akma dayanımı ve kopma dayanımı gibi mekanik özelliklerini belirler. Çeşitli malzeme türleri için kalite kontrol, araştırma ve geliştirme süreçlerinde yaygın olarak tercih edilir.

Yapılan Analizler:

Üniversal çekme-basınç test cihazı, malzemelerin çekme dayanımı, akma noktası ve kopma uzaması gibi mekanik özelliklerini analiz eder. Basma testleriyle malzemelerin sıkıştırılabilirlik, yük taşıma kapasitesi ve elastiklik davranışları ölçülür. Ayrıca, eğilme, kayma ve yorulma testleri gibi farklı mekanik testleri de gerçekleştirebilir, bu da malzemenin farklı yükleme koşulları altındaki davranışını kapsamlı şekilde değerlendirmeye olanak tanır.

Teknik Özellikler:

0.1–500 mm/dak. Hız aralığı

Anahtar Kelimeler: Malzeme Dayanım TestiMekanik Gerilme AnaliziÇekme TestiBasma TestiKuvvet Ölçümü
Femtosaniye laser yükseltici  (OPA)
Quantronix/Palitra | Lazer Sistemleri
0.8 puan

Kullanım Amacı:

Femtosaniye laser yükseltici sistemine ait çalışma düzeneği

Yapılan Analizler:

Geçiş Hali Soğurma Spektroskopisi, Aşırı Hızlı Mikroişleme

Teknik Özellikler:

En iyi enerji kararlılığı, demet kalitesi ve en yüksek OPA için demet hedef nokta kararlılığı/harmonik dönüşüm verimliliği

Anahtar Kelimeler:
Empedans Analizörü
Hioki/IM3570 | Temiz Oda
0.63 puan

Kullanım Amacı:

Yarıiletken temelli cihazların empedans analizlerinin yapılması

Yapılan Analizler:

TO 11     Empedans - Kapasitans Ölçüm Sistemi

Teknik Özellikler:

Hioki IM3570 LCR Ölçer ve Empedans Analizörü, elektronik bileşenlerin test edilmesinde 1mHz'den 3GHz'e kadar değişen bir frekansta ölçüm yeteneğine sahiptir. Hem LCR ölçer hem de empedans analizörü olarak kullanılan Hioki IM3570, frekans tarama ölçümü ve tepe karşılaştırıcı işlevlerini kullanarak rezonans koşulunda geçme/kalma kararları üretebilir ve ayrıca 1 kHz ve 120 Hz LCR testi yoluyla geçme/kalma kararları dahil olmak üzere farklı koşullar altında sürekli denetimler gerçekleştirebilir. Bu şekilde, tek bir cihazla hem frekans tarama ölçümü hem de LCR ölçümü yapmak mümkündür.

Anahtar Kelimeler: Empedans Analizörü (Impedance Analyzer)Elektriksel Empedans (Electrical Impedance)Alternatif Akım (AC) AnaliziEmpedans Spektroskopisi (Impedance Spectroscopy)Kompleks Empedans (Complex Impedance)Reaktans (Reactance)Direnç (Resistance)Kapasitans (Capacitance)Endüktans (Inductance)Faz Açısı (Phase Angle)Dielektrik Spektroskopisi (Dielectric Spectroscopy)AC Direnç ÖlçümüFrekans Tepkisi (Frequency Response)Dielektrik Kaybı (Dielectric Loss)AC İletkenlik (AC Conductivity)Elektroaktif MalzemelerYarı İletken KarakterizasyonuSensör KarakterizasyonuPiezoelektrik Malzeme AnaliziMalzeme KarakterizasyonuElektriksel Özdirenç (Electrical Resistivity)
Elektron Spin Rezonans Spektrometresi (ESR)
JEOL / JESFA-300 | Spektroskopi
0.59 puan

Kullanım Amacı:

Malzemelerin paramanyetik özelliklerinin tespitinde kullanılır. ESR spektroskopisi radikallerin direkt tayin edilebildiği tek yöntemdir.

Yapılan Analizler:

ESR 01 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Oda Sıcaklığında ESR 02 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 03 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Oda Sıcaklığında ESR 04 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 05 ESR Ölçümü / Örnek Başına Sıcaklık Taraması (-150 °C’den + 150 °C’ye) ESR 06 ESR Ölçümü / Örnek Başına Güç Taraması (7 Farklı Güç Değeri İçin)"

Teknik Özellikler:

Bu spektrometre ile 8.75-9.65 GHz (X-band) mikrodalga bölgesinde, 7x10^9 spin/0.1 mT duyarlılığında, 2.35x10^-6 T veya daha iyi çözünürlükte, 0.0002 mT ile 2 mT modülasyon genliğinde 0 ile ± 500 mT manyetik alan tarama genişliğinde ve 0.1 s ile 12 saat manyetik alan tarama zamanında ölçüm alınabilmektedir. Ayrıca, -150 °C ile +150 °C sıcaklık aralığında JEOL/ES-DVT4 sıvı azot değişken sıcaklık kontrol ünitesi kullanılarak deney yapılabilmesine imkân tanımaktadır.

Anahtar Kelimeler: Elektrospin RezonansESRParamanyetik maddelerArkeolojik tarihlendirmeKristal yapı analiziRadikal tespiti
Loadcell + Transmitter Seti
Merlab | Uçak Bakım Hangarı
0.55 puan

Kullanım Amacı:

Yük ve kuvvet ölçümlerini hassas bir şekilde gerçekleştirmek, bu ölçümleri işlemek ve iletmek

Yapılan Analizler:

Loadcell; kuvveti ölçülebilir bir elektrik çıktısına dönüştürmek için kullanılan dönüştürücüdür. Transmitter; Loadcellden gelen sinyallerin kontrol sistemine entegre edilmesi için kullanılan, Loadcell sinyal dönüştürücüsüdür.

Teknik Özellikler:

Minimum 20 kg yük ölçme0.0001 kg ölçüm hassasiyeti11-36V Çalışma Gerilimi 6 digit 7 segment 16mm yükseklikte LED Display ekran 5 adet LED Durum Göstergesi 4 adet Switch Buton2 adet SET edilebilir Dahili NC / NO Röle Yüksek Hassasiyet 24 Bit Sigma Delta ADC 4 adet Loadcell Bağlayabilme (350ohm), 8 adet Loadcell Bağlayabilme (700ohm) kapasiteRS232/RS485 Modbus Haberleşme İmkanı 0-10V / 4-20mA Analog Çıkış 

Anahtar Kelimeler: