Arama terimi "Kristal yapısı" için toplam 5 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "X-Işını Difraktometresi (XRD)" (Marka/Model: BRUKER / D8 ADVANCE). Bu cihaz temel olarak "*Kristal Yapısının Belirlenmesi *Atom Pozisyonlarının Belirlenmesi *Kristal Yapının Değişimlerinin İzlenmesi *Kimyasal Bağların Analizi " amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 3 farklı kategoriden cihazları içeriyor: X-Işınları Analizi, Görüntüleme, Spektroskopi. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
*Kristal Yapısının Belirlenmesi *Atom Pozisyonlarının Belirlenmesi *Kristal Yapının Değişimlerinin İzlenmesi *Kimyasal Bağların Analizi
Yapılan Analizler:
XRD 01 Kırınım Deseni Çekimi XRD 02 Nitel Analiz XRD 03 Kırınım Deseni Analizi XRD 04 Reflektivite Analizi XRD 05 Kantitatif Analiz XRD 06 Yarı Kantitatif Analiz (%)
Teknik Özellikler:
Jeneratör ve dedektör: Bruker D8 advance (Lynxeye dedector) Tüp: Cu (40 Kv – 40 mA) Dalga boyu : Cukα1=1.54059 Å
Kullanım Amacı:
Bileşenleri analiz etmek ve şeffaf malzemelerin özelliklerini incelemek ve mineral veya metal numunelerinde farklı fazların tespiti amacıyla kullanılabilir.
Yapılan Analizler:
BYT 37 Polarize Işık Mikroskobu
Teknik Özellikler:
İnce [1 mm] ve orta [4 mm] mikrometre ölçeği arasında hassas odaklama geçişi vardır.
Kullanım Amacı:
JEM-2100, çok amaçlı, 200 kV analitik geçirimli elektron mikroskobudur. Bu cihaz ile malzemelerin iç yapısını atomik ölçekte incelemek, kristal yapıları, kusurları, taneleri ve arayüzleri analiz etmek, nanomalzemelerin morfolojisini ve yapısını karakterize etmek, malzemelerin kimyasal bileşimini ve elementel dağılımını belirlemek, hücrelerin, virüslerin, bakterilerin ve diğer biyolojik malzemelerin yapısını incelemek mümkündür.
Yapılan Analizler:
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik Özellikler:
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)
Kullanım Amacı:
Malzemelerin paramanyetik özelliklerinin tespitinde kullanılır. ESR spektroskopisi radikallerin direkt tayin edilebildiği tek yöntemdir.
Yapılan Analizler:
ESR 01 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Oda Sıcaklığında ESR 02 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 03 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Oda Sıcaklığında ESR 04 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 05 ESR Ölçümü / Örnek Başına Sıcaklık Taraması (-150 °C’den + 150 °C’ye) ESR 06 ESR Ölçümü / Örnek Başına Güç Taraması (7 Farklı Güç Değeri İçin)"
Teknik Özellikler:
Bu spektrometre ile 8.75-9.65 GHz (X-band) mikrodalga bölgesinde, 7x10^9 spin/0.1 mT duyarlılığında, 2.35x10^-6 T veya daha iyi çözünürlükte, 0.0002 mT ile 2 mT modülasyon genliğinde 0 ile ± 500 mT manyetik alan tarama genişliğinde ve 0.1 s ile 12 saat manyetik alan tarama zamanında ölçüm alınabilmektedir. Ayrıca, -150 °C ile +150 °C sıcaklık aralığında JEOL/ES-DVT4 sıvı azot değişken sıcaklık kontrol ünitesi kullanılarak deney yapılabilmesine imkân tanımaktadır.
Kullanım Amacı:
GörüntülemeNano-mikro ölçekteki detayların yüksek çözünürlükte görüntülenmesiMalzeme Bilimi: Metal, seramik, polimer gibi malzemelerin yüzey morfolojisini incelemek.Biyoloji ve Sağlık: Hücre yapıları, mikroorganizmalar ve biyomalzemelerin yüzey özelliklerini gözlemlemek.Elektronik ve Yarı İletkenler: Mikroçipler ve devre elemanlarının yüzey hatalarını ve yapısal kusurlarını analiz etmek.Jeoloji ve Mineraloji: Kayaç, mineral ve toprak örneklerinin kompozisyonunu incelemek.Adli Bilimler: Parmak izi, boya, lif ve diğer mikroskobik kanıtların analizinde kullanmak.Nanoteknoloji: Nanomalzemelerin yapısal özelliklerini incelemek.Element analiziİncelenen yapının element içeriğini yarı kantitatif olarak tayin etmek.
Yapılan Analizler:
SEM 01- SE_VPSE_BSD_STEM dedektörSEM 02- EDX - Harita_nokta_ çizgi_alan
Teknik Özellikler:
0,1 – 30 kV hızlandırma voltajı310 mm (Ø) x 220 mm (Ø) ölçülerine sahip chamber100 mm maksimum numune yüksekliği230 mm maksimum numune genişliği80 x 100 x 35 mm (XYZ) motorize stage dolaşımıThermionic emisyonW veya LaB6 elektron kaynağı (gun) kullanımı3 nm 30 kV / 20 nm 1kV çözünürlük