Arama terimi "Kristal Yapı Analizi" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "(Geçirimli Elektron Mikroskobu) (TEM)" (Marka/Model: JEOL / Jem 2100). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: yapilan analizler alanında yüksek benzerlik, anahtar kelime alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "JEM-2100, çok amaçlı, 200 kV analitik geçirimli elektron mikroskobudur. Bu cihaz ile malzemelerin iç yapısını atomik ölçekte incelemek, kristal yapıları, kusurları, taneleri ve arayüzleri analiz etmek, nanomalzemelerin morfolojisini ve yapısını karakterize etmek, malzemelerin kimyasal bileşimini ve elementel dağılımını belirlemek, hücrelerin, virüslerin, bakterilerin ve diğer biyolojik malzemelerin yapısını incelemek mümkündür. " amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 7 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Görüntüleme, X-Işınları Analizi, Spektroskopi, 325 No'lu Laboratuvar, Genel Uygulama Laboratuvarı, Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325), Kimyasal Analiz. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.
Kullanım Amacı:
JEM-2100, çok amaçlı, 200 kV analitik geçirimli elektron mikroskobudur. Bu cihaz ile malzemelerin iç yapısını atomik ölçekte incelemek, kristal yapıları, kusurları, taneleri ve arayüzleri analiz etmek, nanomalzemelerin morfolojisini ve yapısını karakterize etmek, malzemelerin kimyasal bileşimini ve elementel dağılımını belirlemek, hücrelerin, virüslerin, bakterilerin ve diğer biyolojik malzemelerin yapısını incelemek mümkündür.
Yapılan Analizler:
TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi
Teknik Özellikler:
200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)
Kullanım Amacı:
*Kristal Yapısının Belirlenmesi *Atom Pozisyonlarının Belirlenmesi *Kristal Yapının Değişimlerinin İzlenmesi *Kimyasal Bağların Analizi
Yapılan Analizler:
XRD 01 Kırınım Deseni Çekimi XRD 02 Nitel Analiz XRD 03 Kırınım Deseni Analizi XRD 04 Reflektivite Analizi XRD 05 Kantitatif Analiz XRD 06 Yarı Kantitatif Analiz (%)
Teknik Özellikler:
Jeneratör ve dedektör: Bruker D8 advance (Lynxeye dedector) Tüp: Cu (40 Kv – 40 mA) Dalga boyu : Cukα1=1.54059 Å
Kullanım Amacı:
Malzemelerin paramanyetik özelliklerinin tespitinde kullanılır. ESR spektroskopisi radikallerin direkt tayin edilebildiği tek yöntemdir.
Yapılan Analizler:
ESR 01 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Oda Sıcaklığında ESR 02 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 03 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Oda Sıcaklığında ESR 04 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 05 ESR Ölçümü / Örnek Başına Sıcaklık Taraması (-150 °C’den + 150 °C’ye) ESR 06 ESR Ölçümü / Örnek Başına Güç Taraması (7 Farklı Güç Değeri İçin)"
Teknik Özellikler:
Bu spektrometre ile 8.75-9.65 GHz (X-band) mikrodalga bölgesinde, 7x10^9 spin/0.1 mT duyarlılığında, 2.35x10^-6 T veya daha iyi çözünürlükte, 0.0002 mT ile 2 mT modülasyon genliğinde 0 ile ± 500 mT manyetik alan tarama genişliğinde ve 0.1 s ile 12 saat manyetik alan tarama zamanında ölçüm alınabilmektedir. Ayrıca, -150 °C ile +150 °C sıcaklık aralığında JEOL/ES-DVT4 sıvı azot değişken sıcaklık kontrol ünitesi kullanılarak deney yapılabilmesine imkân tanımaktadır.
Kullanım Amacı:
Gaz numune analizi yapılır.
Yapılan Analizler:
Hidrojen miktar analizi
Teknik Özellikler:
Kolon Fırın Sıcaklığı: (Oda sıcaklığı + 4°C) ila 450°C Taşıyıcı Gaz Kontrolü: Elektronik akış kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Akış Kontrol Cihazı Dedektör Gaz Kontrolü: Elektronik basınç kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Basınç Kontrolörü Numune Enjektörü: Bölmeli/Bölmesiz, Direkt, Kolon Üstü/Programlanabilir Sıcaklık Buharlaştırıcı Enjeksiyon Dedektörleri : FID, BID, TCD, ECD, FPD, FTD (NPD), MS. İsteğe bağlı, 12 flakon veya 150 flakon kapasiteli sıvı otomatik örnekleyici Opsiyonel otomatik Baş Boşluğu, SPME, Tahliye ve Tuzak, Termal Desorber ve Piroliz Ünitesi
Kullanım Amacı:
elek analizi
Yapılan Analizler:
elek analizi
Teknik Özellikler:
100 mikron ve üzeri ürünleri elemeye uygun 1 alt tas olmak üzere 7 adet elek kapasitesi bulunmakta,38 x 41 x 68 cm boyutlarında ve22.5 kg ağırlığındadır.
Kullanım Amacı:
GörüntülemeNano-mikro ölçekteki detayların yüksek çözünürlükte görüntülenmesiMalzeme Bilimi: Metal, seramik, polimer gibi malzemelerin yüzey morfolojisini incelemek.Biyoloji ve Sağlık: Hücre yapıları, mikroorganizmalar ve biyomalzemelerin yüzey özelliklerini gözlemlemek.Elektronik ve Yarı İletkenler: Mikroçipler ve devre elemanlarının yüzey hatalarını ve yapısal kusurlarını analiz etmek.Jeoloji ve Mineraloji: Kayaç, mineral ve toprak örneklerinin kompozisyonunu incelemek.Adli Bilimler: Parmak izi, boya, lif ve diğer mikroskobik kanıtların analizinde kullanmak.Nanoteknoloji: Nanomalzemelerin yapısal özelliklerini incelemek.Element analiziİncelenen yapının element içeriğini yarı kantitatif olarak tayin etmek.
Yapılan Analizler:
SEM 01- SE_VPSE_BSD_STEM dedektörSEM 02- EDX - Harita_nokta_ çizgi_alan
Teknik Özellikler:
0,1 – 30 kV hızlandırma voltajı310 mm (Ø) x 220 mm (Ø) ölçülerine sahip chamber100 mm maksimum numune yüksekliği230 mm maksimum numune genişliği80 x 100 x 35 mm (XYZ) motorize stage dolaşımıThermionic emisyonW veya LaB6 elektron kaynağı (gun) kullanımı3 nm 30 kV / 20 nm 1kV çözünürlük
Kullanım Amacı:
Nanomalzemelerin partikül boyut analizi
Yapılan Analizler:
Çeşitli nanomalzemelerin partikül boyut analizinin belirlenmesi
Teknik Özellikler:
1 nm'den 6 μm'ye kadar partikül boyutlandırma, 35 mW yüksek hassasiyetli lazer dedektör
Kullanım Amacı:
Gaz numunelerin miktar tayini yapılır.
Yapılan Analizler:
Gaz numune analizi, Hidrojen miktar analizi
Teknik Özellikler:
2D kod navigasyonuTek dokunuşla girişClean pilot işleviAkıllı telefon üzerinden GC kontrolüBID dedektörüGaz seçici ile taşıyıcı gazların seçimi
Kullanım Amacı:
PPM mertebesinde elemental analiz
Yapılan Analizler:
ICP OES 01 ICP-OES Analizi (1-10 Element arası) ICP OES 02 ICP-OES Analizi (11-30 Element arası) ICP OES 03 ICP-OES Analizi (31-50 Element arası) ICP OES 04 ICP-OES Analizi (51-(+) Element)
Teknik Özellikler:
Dalga boyu aralığı: 165-1100 nanometre (nm)
Kullanım Amacı:
PPB/PPT mertebesinde elementel analiz
Yapılan Analizler:
ICP MS 01 ICP-MS Analizi (1-10 Element arası) ICP MS 02 ICP-MS Analizi (11-30 Element arası) ICP MS 03 ICP-MS Analizi (31-50 Element arası ICP MS 04 ICP-MS Analizi (51-(+) Element)
Teknik Özellikler:
Kütle Aralığı: 2-260 atomic mass unit (amu)