"Kristal" için Arama Sonuçları
5 sonuç
Analiz Sonucu

Arama terimi "Kristal" için toplam 5 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "X-Işını Difraktometresi (XRD)" (Marka/Model: BRUKER / D8 ADVANCE). Bu cihaz temel olarak "*Kristal Yapısının Belirlenmesi *Atom Pozisyonlarının Belirlenmesi  *Kristal Yapının Değişimlerinin İzlenmesi  *Kimyasal Bağların Analizi             " amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 4 farklı kategoriden cihazları içeriyor: X-Işınları Analizi, Görüntüleme, Spektroskopi, BİYOKİMYA LAB.. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.

X-Işını Difraktometresi (XRD) En Uygun
BRUKER / D8 ADVANCE | X-Işınları Analizi
2.77 puan

Kullanım Amacı:

*Kristal Yapısının Belirlenmesi *Atom Pozisyonlarının Belirlenmesi  *Kristal Yapının Değişimlerinin İzlenmesi  *Kimyasal Bağların Analizi             

Yapılan Analizler:

XRD 01 Kırınım Deseni Çekimi  XRD 02 Nitel Analiz XRD 03 Kırınım Deseni Analizi XRD 04 Reflektivite Analizi XRD 05 Kantitatif Analiz XRD 06 Yarı Kantitatif Analiz (%)

Teknik Özellikler:

Jeneratör ve dedektör: Bruker D8 advance (Lynxeye dedector) Tüp: Cu (40 Kv – 40 mA)  Dalga boyu : Cukα1=1.54059  Å    

Anahtar Kelimeler: X-ışını difraksiyonu (XRD)Kristal yapısıX-ışını spektroskopisiKristal kafesiToz XRD (Powder XRD)Tek kristal XRDFaz analiziToz Kırınım DeseniKantitatif analizKalitatif analizTekstür AnaliziMinerolojik AnalizXRD patern analiziFaz tayiniTek kristal analiziGerinim ve stres analizi
Polarize mikroskop
Leica DM 2500P | Görüntüleme
2.5 puan

Kullanım Amacı:

Bileşenleri analiz etmek ve şeffaf malzemelerin özelliklerini incelemek ve mineral veya metal numunelerinde farklı fazların tespiti amacıyla kullanılabilir.

Yapılan Analizler:

BYT 37 Polarize Işık Mikroskobu

Teknik Özellikler:

İnce [1 mm] ve orta [4 mm] mikrometre ölçeği arasında hassas odaklama geçişi vardır.

Anahtar Kelimeler: PolarizeMikroskopMalzemeKristal
(Geçirimli Elektron Mikroskobu) (TEM)
JEOL / Jem 2100 | Görüntüleme
1.93 puan

Kullanım Amacı:

JEM-2100, çok amaçlı, 200 kV analitik geçirimli elektron mikroskobudur. Bu cihaz ile malzemelerin iç yapısını atomik ölçekte incelemek, kristal yapıları, kusurları, taneleri ve arayüzleri analiz etmek, nanomalzemelerin morfolojisini ve yapısını karakterize etmek, malzemelerin kimyasal bileşimini ve elementel dağılımını belirlemek, hücrelerin, virüslerin, bakterilerin ve diğer biyolojik malzemelerin yapısını incelemek mümkündür. 

Yapılan Analizler:

TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi

Teknik Özellikler:

200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)  

Anahtar Kelimeler: TEMNanogörüntülemeKristal Yapı AnaliziMikroyapı AnaliziFaz AnaliziAtomik Düzeyde GörüntülemeLattice Fringe AnaliziKristal Yönelimi ve Yapısal AnalizDislokasyon ve Kusur AnaliziNano Parçacık Morfolojisi ve Boyut DağılımıAmorf ve Kristal Yapı AyrımıSeçili Bölge Elektron Difraksiyonu (SAED)Elementel Analiz (EDS/EDX ile)tem
Elektron Spin Rezonans Spektrometresi (ESR)
JEOL / JESFA-300 | Spektroskopi
1.79 puan

Kullanım Amacı:

Malzemelerin paramanyetik özelliklerinin tespitinde kullanılır. ESR spektroskopisi radikallerin direkt tayin edilebildiği tek yöntemdir.

Yapılan Analizler:

ESR 01 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Oda Sıcaklığında ESR 02 ESR Ölçümü / Spektrum Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 03 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Oda Sıcaklığında ESR 04 ESR Ölçümü (Tek Kristal) / Eksen Başına Sıcaklık Kontrollü (-150 °C) ESR 05 ESR Ölçümü / Örnek Başına Sıcaklık Taraması (-150 °C’den + 150 °C’ye) ESR 06 ESR Ölçümü / Örnek Başına Güç Taraması (7 Farklı Güç Değeri İçin)"

Teknik Özellikler:

Bu spektrometre ile 8.75-9.65 GHz (X-band) mikrodalga bölgesinde, 7x10^9 spin/0.1 mT duyarlılığında, 2.35x10^-6 T veya daha iyi çözünürlükte, 0.0002 mT ile 2 mT modülasyon genliğinde 0 ile ± 500 mT manyetik alan tarama genişliğinde ve 0.1 s ile 12 saat manyetik alan tarama zamanında ölçüm alınabilmektedir. Ayrıca, -150 °C ile +150 °C sıcaklık aralığında JEOL/ES-DVT4 sıvı azot değişken sıcaklık kontrol ünitesi kullanılarak deney yapılabilmesine imkân tanımaktadır.

Anahtar Kelimeler: Elektrospin RezonansESRParamanyetik maddelerArkeolojik tarihlendirmeKristal yapı analiziRadikal tespiti
SPEKTROMETRELER/SPEKTROFOT OMETRELER/ DİFRAKTOMETRELER VİZİBUL
PERKİNELMER DAMBDA | BİYOKİMYA LAB.
0.68 puan

Kullanım Amacı:

Spektrometreler, spektrofotometreler ve difraktometreler; genellikle maddelerin kimyasal bileşimlerini, yapısını veya özelliklerini incelemek için kullanılan cihazlardır. Vizibül (görünür ışık) bölgesinde çalışan bu cihazların kullanım amacı şunlardır:Spektrometreler: Maddelerin ışıkla etkileşimini ölçerek, örneklerin kimyasal bileşenlerini analiz etmek için kullanılır. Görünür ışık (400-700 nm) aralığındaki ışıkların emilimini ölçerek madde hakkında bilgi verir.Spektrofotometreler: Işığın örnek üzerinden geçtikten sonra ne kadarının emildiğini ölçer ve genellikle madde miktarı veya yoğunluğu belirlemek için kullanılır. Görünür ışık aralığında çalışarak, çözünürlük, renk analizi ve madde tayini gibi uygulamalarda yaygın olarak kullanılır.Difraktometreler: Işık, X-ışınları veya elektronların bir örnek üzerinden geçerek yayılmasını ölçer. Bu yayılma (difraksiyon) örneğin kristal yapısını, moleküler düzenini ve diğer yapısal özelliklerini incelemek için kullanılır.

Yapılan Analizler:

**Spektrometreler, spektrofotometreler ve difraktometreler** ile yapılan analizler genellikle maddelerin kimyasal, fiziksel ve yapısal özelliklerini belirlemeye yönelik işlemler içerir. Yapılan bazı analizler şunlardır:1. **Kimyasal Bileşim Analizi**:   - Maddelerin içeriği, bileşenlerin tespiti (örneğin, metallerin, iyonların veya organik bileşiklerin analizi).  - Çözeltinin konsantrasyonu belirlenmesi (örneğin, spektrofotometri kullanılarak bir bileşiğin emilimi ölçülür).2. **Renk Tayini**:   - Görünür ışık spektrumunda maddelerin renklerinin analiz edilmesi. Gıda, ilaç ve su analizlerinde kullanılır.3. **Kristal Yapı ve Faz Analizi**:   - Difraktometreler ile kristal yapısının belirlenmesi (örneğin, X-ışını difraksiyonu kullanılarak kristal yapı analizi yapılır).  - Minerallerin ve metal alaşımlarının yapısal analizleri.4. **Protein ve DNA/RNA Analizleri**:   - Spektrofotometri ile biyolojik örneklerin, özellikle protein ve nükleik asitlerin konsantrasyonlarının belirlenmesi.5. **Absorpsiyon ve Emisyon Spektroskopisi**:   - Elementlerin, metallerin veya iyonların çözeltilerdeki konsantrasyonlarının belirlenmesi için kullanılır (örneğin, atomik absorpsiyon spektroskopisi).6. **Çözücü ve Bileşik Etkileşim Analizleri**:   - Çözünürlük, yoğunluk ve reaksiyon hızlarının incelenmesi.7. **Kalite Kontrol ve Standart Testler**:   - Ürünlerin veya hammaddelerin belirli kalite standartlarına uygunluğunun test edilmesi.Bu cihazlar, araştırma ve geliştirme, çevre analizi, farmasötik, gıda güvenliği ve malzeme bilimi gibi pek çok alanda kullanılır.

Teknik Özellikler:

Frekans Aralığı: 190 nm ile 1100 nm arası geniş bir spektrum aralığı.Dijital Kontrol: Kullanıcı dostu dijital ekran ve yazılım entegrasyonu.Yüksek Hassasiyet: Düşük ve yüksek konsantrasyonlu örneklerde yüksek hassasiyetle analiz yapabilme.Çeşitli Ölçüm Modları: Absorpsiyon, transmittans, emisyon gibi farklı ölçüm modlarını destekler.Otomatik Numune Enjeksiyon Sistemi: Bazı modellerde, örneklerin otomatik olarak analiz edilmesini sağlayan numune enjeksiyon sistemi bulunur.Kolon ve Detektör Uyumu: Çeşitli kolon tipleri ve dedektör seçenekleri ile uyumludur.Gelişmiş Yazılım: Analizlerin kolayca yapılabilmesi için kapsamlı yazılım destekleri.

Anahtar Kelimeler: