"Enerji Emilim Analizi" için Arama Sonuçları
10 sonuç
Analiz Sonucu

Arama terimi "Enerji Emilim Analizi" için toplam 10 cihaz bulundu. En yüksek eşleşme puanına sahip cihaz "(Geçirimli Elektron Mikroskobu) (TEM)" (Marka/Model: JEOL / Jem 2100). Bu cihaz şu nedenlerle öne çıktı: yapilan analizler alanında yüksek benzerlik. Bu cihaz temel olarak "JEM-2100, çok amaçlı, 200 kV analitik geçirimli elektron mikroskobudur. Bu cihaz ile malzemelerin iç yapısını atomik ölçekte incelemek, kristal yapıları, kusurları, taneleri ve arayüzleri analiz etmek, nanomalzemelerin morfolojisini ve yapısını karakterize etmek, malzemelerin kimyasal bileşimini ve elementel dağılımını belirlemek, hücrelerin, virüslerin, bakterilerin ve diğer biyolojik malzemelerin yapısını incelemek mümkündür. " amacıyla kullanılıyor. Sonuçlar 7 farklı kategoriden cihazları içeriyor: Görüntüleme, 325 No'lu Laboratuvar, Genel Uygulama Laboratuvarı, Elektrik Makineleri Laboratuvarı, Mekanik Test Laboratuvarı, Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325), Kimyasal Analiz. Bu da aramanızın birden fazla cihaz türüyle ilgili olduğunu gösteriyor. Daha spesifik sonuçlar için teknik özelliklerle ilgili anahtar kelimeleri aramanıza ekleyebilirsiniz.

(Geçirimli Elektron Mikroskobu) (TEM) En Uygun
JEOL / Jem 2100 | Görüntüleme
2.95 puan

Kullanım Amacı:

JEM-2100, çok amaçlı, 200 kV analitik geçirimli elektron mikroskobudur. Bu cihaz ile malzemelerin iç yapısını atomik ölçekte incelemek, kristal yapıları, kusurları, taneleri ve arayüzleri analiz etmek, nanomalzemelerin morfolojisini ve yapısını karakterize etmek, malzemelerin kimyasal bileşimini ve elementel dağılımını belirlemek, hücrelerin, virüslerin, bakterilerin ve diğer biyolojik malzemelerin yapısını incelemek mümkündür. 

Yapılan Analizler:

TEM 04 TEM Analizi , EDX Mapping Analizi EDX Point ve Çizgisel Analiz STEM Analizi SAD Analizi

Teknik Özellikler:

200 kV Hızlandırma gerilimi, LaB6 elektron tabancası, 0,1 nm çözünürlük, PC kontrol sistemine entegre STEM (Tarama İletim Elektron Mikroskobu: opsiyonel) fonksiyonu, 0,28sr katı açılı EDS (Enerji Dağıtıcı X-ışını Spektrometresi) (50mm2 dedektörlü HR konfigürasyonunda)  

Anahtar Kelimeler: TEMNanogörüntülemeKristal Yapı AnaliziMikroyapı AnaliziFaz AnaliziAtomik Düzeyde GörüntülemeLattice Fringe AnaliziKristal Yönelimi ve Yapısal AnalizDislokasyon ve Kusur AnaliziNano Parçacık Morfolojisi ve Boyut DağılımıAmorf ve Kristal Yapı AyrımıSeçili Bölge Elektron Difraksiyonu (SAED)Elementel Analiz (EDS/EDX ile)tem
 Gaz Kromotografisi
Shimadzu (GC-2010 Plus) | 325 No'lu Laboratuvar
2.7 puan

Kullanım Amacı:

Gaz numune analizi yapılır.

Yapılan Analizler:

Hidrojen miktar analizi

Teknik Özellikler:

Kolon Fırın Sıcaklığı: (Oda sıcaklığı + 4°C) ila 450°C Taşıyıcı Gaz Kontrolü: Elektronik akış kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Akış Kontrol Cihazı Dedektör Gaz Kontrolü: Elektronik basınç kontrolörü ile dijital ayar, Gelişmiş Basınç Kontrolörü Numune Enjektörü: Bölmeli/Bölmesiz, Direkt, Kolon Üstü/Programlanabilir Sıcaklık Buharlaştırıcı Enjeksiyon Dedektörleri : FID, BID, TCD, ECD, FPD, FTD (NPD), MS. İsteğe bağlı, 12 flakon veya 150 flakon kapasiteli sıvı otomatik örnekleyici Opsiyonel otomatik Baş Boşluğu, SPME, Tahliye ve Tuzak, Termal Desorber ve Piroliz Ünitesi

Anahtar Kelimeler: Gaz KromatografisiAlev İyonizasyon DedektörüOrganik Bileşik AnaliziHidrokarbon TayiniNumune Enjeksiyonu
Elek Sallama Makinesi
Loyka ESM-200 | Genel Uygulama Laboratuvarı
2.45 puan

Kullanım Amacı:

elek analizi

Yapılan Analizler:

elek analizi

Teknik Özellikler:

100 mikron ve üzeri ürünleri elemeye uygun 1 alt tas olmak üzere 7 adet elek kapasitesi bulunmakta,38 x 41 x 68 cm boyutlarında ve22.5 kg ağırlığındadır.

Anahtar Kelimeler:
Şebeke Enerji Analizör Modülü
YILDIRIM ELEKTRONİK/Y-0036-004 | Elektrik Makineleri Laboratuvarı
2.28 puan

Kullanım Amacı:

Elektrik şebekesindeki enerji tüketimini ve kalite parametrelerini ölçmek için kullanılır. Gerilim, akım, güç faktörü, aktif ve reaktif güç gibi değerleri analiz ederek şebekenin performansını değerlendirir. Özellikle enerji yönetimi, sistem optimizasyonu ve arıza tespiti süreçlerinde yaygın olarak kullanılır.

Yapılan Analizler:

Şebekedeki gerilim ve akım değerlerini ölçerek aktif, reaktif ve görünür güç analizleri yapabilir. Güç faktörü ölçümleriyle enerji verimliliğini değerlendirebilir ve harmonik analiz yoluyla şebeke kalitesini etkileyen bozulmaları tespit edebilir. Ayrıca, enerji tüketim trendlerini izleyerek enerji yönetim sistemlerine veri sağlayabilir ve sistem performansını optimize etmek için detaylı analizler gerçekleştirebilir.

Teknik Özellikler:

A - V - W - VAR - VA - COSφ - Hz - kWh - kVARh - ΣA - ΣW - ΣVAR - ΣVA - LN - LL

Anahtar Kelimeler:
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
ZEISS/EVO LS10 | Görüntüleme
2.2 puan

Kullanım Amacı:

GörüntülemeNano-mikro ölçekteki detayların yüksek çözünürlükte görüntülenmesiMalzeme Bilimi: Metal, seramik, polimer gibi malzemelerin yüzey morfolojisini incelemek.Biyoloji ve Sağlık: Hücre yapıları, mikroorganizmalar ve biyomalzemelerin yüzey özelliklerini gözlemlemek.Elektronik ve Yarı İletkenler: Mikroçipler ve devre elemanlarının yüzey hatalarını ve yapısal kusurlarını analiz etmek.Jeoloji ve Mineraloji: Kayaç, mineral ve toprak örneklerinin kompozisyonunu incelemek.Adli Bilimler: Parmak izi, boya, lif ve diğer mikroskobik kanıtların analizinde kullanmak.Nanoteknoloji: Nanomalzemelerin yapısal özelliklerini incelemek.Element analiziİncelenen yapının element içeriğini yarı kantitatif olarak tayin etmek.

Yapılan Analizler:

SEM 01- SE_VPSE_BSD_STEM dedektörSEM 02- EDX - Harita_nokta_ çizgi_alan 

Teknik Özellikler:

0,1 – 30 kV hızlandırma voltajı310 mm (Ø) x 220 mm (Ø) ölçülerine sahip chamber100 mm maksimum numune yüksekliği230 mm maksimum numune genişliği80 x 100 x 35 mm (XYZ) motorize stage dolaşımıThermionic emisyonW veya LaB6 elektron kaynağı (gun) kullanımı3 nm 30 kV / 20 nm  1kV çözünürlük

Anahtar Kelimeler: Elementel analizMikroyapı analiziSEMEDXEDSTaramalı Elektron MikroskobuEnerji Dağılım Spektroskopisi (EDS/EDX)Biyomalzeme yüzey analiziKristal yapısı analiziGeri saçılmış elektron (BSE) analiziSekonder elektron (SE) görüntülemeYüzey morfolojisi analiziKompozisyon analiziKaplama kalınlık ölçümüPartikül analiziPorozite analiziBoyutsal analizEğimli kesit analiziMetalurjik analizNano ölçekli analizMikrobiyal ve hücresel yüzey morfolojisi analizi
Darbe Test Cihazı
MITECH | Mekanik Test Laboratuvarı
2.12 puan

Kullanım Amacı:

Darbe test cihazı, malzemelerin darbe etkisi altında kırılma davranışını ve enerji soğurma kapasitesini ölçmek için kullanılır. Malzemenin süneklik-gevreklik özelliklerini belirlemek ve çentik hassasiyetini değerlendirmek amacıyla kalite kontrol ve araştırmalarda tercih edilir. Özellikle otomotiv, inşaat ve havacılık sektörlerinde, güvenlik ve dayanıklılığı artırmaya yönelik malzeme seçiminde önemli bir rol oynar.

Yapılan Analizler:

Darbe test cihazı, malzemelerin çentik dayanımı ve darbe enerjisi absorpsiyon kapasitesini analiz ederek süneklik ve gevreklik özelliklerini değerlendirir. Farklı sıcaklık ve yükleme koşullarında malzemenin sünek-gevrek geçiş sıcaklığı, kırılma modları ve enerji absorpsiyon davranışını belirler. Ayrıca, çentik tipi, malzeme yapısı ve işlem geçmişinin darbe dayanımına etkilerini detaylı bir şekilde analiz ederek tasarım süreçlerine katkı sağlar.

Teknik Özellikler:

Boyut: 550mm×350mm×850mm, Ağırlık: 160kg

Anahtar Kelimeler: Darbe Dayanım TestiMalzeme Tokluk ÖlçümüEnerji Emilim AnaliziÇentik Darbe TestiMetal ve Plastik TestleriMekanik Dayanıklılık Ölçümü
Partikül boyut analiz cihazı
Brookhaven 90Plus | Fizikokimya Araştırma Laboratuvarı (K-325)
2.1 puan

Kullanım Amacı:

Nanomalzemelerin partikül boyut analizi

Yapılan Analizler:

Çeşitli nanomalzemelerin partikül boyut analizinin belirlenmesi

Teknik Özellikler:

1 nm'den 6 μm'ye kadar partikül boyutlandırma, 35 mW yüksek hassasiyetli lazer dedektör

Anahtar Kelimeler: Partikül boyut analiziNanoparçacık ölçümüDinamik ışık saçılımıZeta potansiyel analiziKolloidal karakterizasyonPartikül boyut dağılımı
 Gaz Kromatografisi
Shimadzu Nexis GC-2030 | 325 No'lu Laboratuvar
2.06 puan

Kullanım Amacı:

Gaz numunelerin miktar tayini yapılır.

Yapılan Analizler:

Gaz numune analizi, Hidrojen miktar analizi

Teknik Özellikler:

2D kod navigasyonuTek dokunuşla girişClean pilot işleviAkıllı telefon üzerinden GC kontrolüBID dedektörüGaz seçici ile taşıyıcı gazların seçimi  

Anahtar Kelimeler: Gaz KromatografisiAlev İyonizasyon DedektörüOrganik Bileşik AnaliziHidrokarbon TayiniNumune Enjeksiyonu
ICP-OES
PERKİN ELMER / OPTİMA 2100 DV | Kimyasal Analiz
2.04 puan

Kullanım Amacı:

PPM mertebesinde elemental analiz

Yapılan Analizler:

ICP OES 01     ICP-OES Analizi (1-10 Element arası)                  ICP OES 02     ICP-OES Analizi (11-30 Element arası)                ICP OES 03     ICP-OES Analizi (31-50 Element arası)                ICP OES 04     ICP-OES Analizi (51-(+) Element)

Teknik Özellikler:

Dalga boyu aralığı: 165-1100 nanometre (nm)

Anahtar Kelimeler: İndüktif Eşleşmiş Plazma Optik Emisyon SpektrometrisiPlazma SpektroskopisiOptik Emisyonİz Element TespitiÇoklu Element AnaliziSpektral ÇözünürlükPlazma KaynağıElementsel KompozisyonMetal AnaliziSu ve Atık Su AnaliziGıda AnaliziÇevresel Numune AnaliziJeokimyasal Numune AnaliziFarmasötik Kalite KontrolSpektral GirişimlerDalga Boyu SeçimiSıvı Numune Hazırlığı
ICP-MS
Perkin Elmer/ELAN DRC-e | Kimyasal Analiz
2.01 puan

Kullanım Amacı:

PPB/PPT mertebesinde elementel analiz

Yapılan Analizler:

ICP MS 01 ICP-MS Analizi (1-10 Element arası) ICP MS 02 ICP-MS Analizi (11-30 Element arası) ICP MS 03 ICP-MS Analizi (31-50 Element arası ICP MS 04 ICP-MS Analizi (51-(+) Element)  

Teknik Özellikler:

Kütle Aralığı: 2-260 atomic mass unit (amu)

Anahtar Kelimeler: İndüktif Eşleşmiş Plazma Kütle Spektrometrisiİz Element AnaliziKütle SpektrometresiAtomizasyonPlazma KaynağıYüksek HassasiyetDüşük Tespit SınırıÇevresel Numune AnaliziBiyolojik Numune AnaliziGıda GüvenliğiSu KalitesiFarmasötik AnalizKlinik Uygulamalar